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Teil V: Modul mit binärem Eingang mit bestandenem EMV-Test vor der Konformitätsprüfung, TI-Design TIDA-00847

00:06:21 | 05 FEB. 2025

Nachfolgend finden Sie eine Zusammenfassung der Sitzungsinhalte:

•Anwendungen und Spezifikationen für Module mit binärem Eingang

•Übersicht über den innovativen Ansatz zur Entwicklung von Modulen mit binärem Eingang und Vorteile gegenüber dem konventionellen Ansatz

•Einführung in EMI-konformes Modul mit binärem Eingang mit breitem Eingangsspannungsbereich zur Messung von AC- oder DC-Eingängen sowie TIDA-00847-Informationsblatt mit den wichtigsten Merkmalen

•Liste der EMV-Tests vor der Konformitätsprüfung, die erfolgreich abgeschlossen wurden  

•TIDA-00847-Designressourcen für Kunden auf TI.com  verfügbar

Ressourcen

  • arrow-right http://www.ti.com/tool/TIDA-00847
  • arrow-right http://www.ti.com/product/isow7841
  • arrow-right http://www.ti.com/isolation/digital-isolators/overview.html
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