Teil V: Modul mit binärem Eingang mit bestandenem EMV-Test vor der Konformitätsprüfung, TI-Design TIDA-00847
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05 FEB. 2025
Nachfolgend finden Sie eine Zusammenfassung der Sitzungsinhalte:
•Anwendungen und Spezifikationen für Module mit binärem Eingang
•Übersicht über den innovativen Ansatz zur Entwicklung von Modulen mit binärem Eingang und Vorteile gegenüber dem konventionellen Ansatz
•Einführung in EMI-konformes Modul mit binärem Eingang mit breitem Eingangsspannungsbereich zur Messung von AC- oder DC-Eingängen sowie TIDA-00847-Informationsblatt mit den wichtigsten Merkmalen
•Liste der EMV-Tests vor der Konformitätsprüfung, die erfolgreich abgeschlossen wurden
•TIDA-00847-Designressourcen für Kunden auf TI.com verfügbar