JAJSVE1 September   2024 ADC3669

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1  絶対最大定格
    2. 5.2  ESD 定格
    3. 5.3  推奨動作条件
    4. 5.4  熱に関する情報
    5. 5.5  電気的特性 - 消費電力
    6. 5.6  電気的特性 - DC 仕様
    7. 5.7  電気的特性 - AC 仕様 (ADC3668 - 250MSPS)
    8. 5.8  電気的特性 - AC 仕様 (ADC3669 - 500MSPS)
    9. 5.9  タイミング要件
    10. 5.10 代表的特性、ADC3668
    11. 5.11 代表的特性、ADC3669
  7. 6 パラメータ測定情報
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 アナログ入力
        1. 7.3.1.1 ナイキスト ゾーン選択
        2. 7.3.1.2 アナログ フロント エンド設計
      2. 7.3.2 サンプリング クロック入力
      3. 7.3.3 複数チップの同期
        1. 7.3.3.1 SYSREF モニタ
      4. 7.3.4 タイムスタンプ
      5. 7.3.5 オーバーレンジ
      6. 7.3.6 外部電圧リファレンス
      7. 7.3.7 デジタル ゲイン
      8. 7.3.8 デシメーション フィルタ
        1. 7.3.8.1 特長あるデシメーション比
        2. 7.3.8.2 デシメーション フィルタ応答
        3. 7.3.8.3 デシメーション フィルタ構成
        4. 7.3.8.4 数値制御発振器 (NCO)
      9. 7.3.9 デジタル インターフェイス
        1. 7.3.9.1 パラレル LVDS (DDR)
        2. 7.3.9.2 デシメーション付きシリアル LVDS (SLVDS)
        3. 7.3.9.3 出力データ フォーマット
        4. 7.3.9.4 32 ビット出力分解能
        5. 7.3.9.5 出力 MUX
        6. 7.3.9.6 テスト・パターン
    4. 7.4 デバイスの機能モード
      1. 7.4.1 低レイテンシ モード
      2. 7.4.2 デジタル チャネル平均化
      3. 7.4.3 パワーダウン モード
    5. 7.5 プログラミング
      1. 7.5.1 GPIO のプログラミング
      2. 7.5.2 レジスタ書き込み
      3. 7.5.3 レジスタ読み出し
      4. 7.5.4 デバイスのプログラミング
      5. 7.5.5 レジスタ マップ
      6. 7.5.6 レジスタの詳細説明
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 広帯域スペクトラム アナライザ
      2. 8.2.2 設計要件
        1. 8.2.2.1 入力信号パス
        2. 8.2.2.2 クロック供給
      3. 8.2.3 詳細な設計手順
        1. 8.2.3.1 サンプリング クロック
      4. 8.2.4 アプリケーション特性の波形
      5. 8.2.5 初期化セットアップ
    3. 8.3 電源に関する推奨事項
    4. 8.4 レイアウト
      1. 8.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.4.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1. 9.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.3.9.6 テスト・パターン

このデバイスには、テスト パターン ジェネレータが内蔵されているため、LVDS 出力のデバッグやキャリブレーションを簡単に行えます。テスト パターン ジェネレータは、図 7-63 に示すように DDC の後に配置されています。

ADC3668 ADC3669 テスト パターン ジェネレータ図 7-63 テスト パターン ジェネレータ

テスト パターン ジェネレータをイネーブルにすると (レジスタ 0x14A の <TEST PATTERN>)、現在の出力データ サンプル、通常の ADC またはデシメーション データをすべて置き換えます。テスト パターンはすべてのチャネルで同じです。テスト パターン ブロックは、20 ビットのテスト パターンを生成します。パターンは <TEST PATTERN> フィールドの値によって制御されます。

デシメーションでは、テスト パターン ブロックは、デフォルトでデシメーションされたクロックで動作します。レジスタ 0x14A の <PATTERN CLK> フィールドをセットすることにより、Fs クロックで動作するように切り替えることもできます。テスト パターン機能は、低レイテンシ動作モードではイネーブルにできません。

以下のレジスタ書き込みを使用すると、16 ビットの出力分解能でステップ サイズ 1 のランプ パターンを構成できます。
表 7-14 カスタム ステップ サイズを使用したランプ パターンの設定例
ADDR データ 説明
0x14A 0x02 カスタム ステップ サイズでランプ パターンを有効化します
0x14B 0x10 ステップ サイズは 16LSB (20 ビット分解能の場合) であり、16 ビット分解能の 1LSB に相当します