JAJSVE1 September 2024 ADC3669
PRODUCTION DATA
パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 公称値 | 最大値 | 単位 | |
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ADC タイミング仕様 | ||||||
TAD | アパーチャ遅延 | 200 | ps | |||
TA | アパーチャ ジッタ | 75 | fs | |||
CER | コード エラー レート | FS = 500MSPS、エラー > 64 コード | 1E-10 | エラー / サンプル | ||
FS = 500MSPS、エラー > 128 コード | 3E-13 | |||||
FS = 250MSPS、エラー > 64 コード | 1E-11 | |||||
ウェークアップ時間 | グローバル パワー ダウン モード終了から有効データまでの時間 (内部電圧リファレンス オフ) | 3 | ms | |||
レイテンシ:tPD + tADC + tDIG | ||||||
tPD | 伝搬遅延:サンプリング クロックの立ち下がりエッジから DCLK 立ち上がりエッジまで | 伝搬遅延:サンプリング クロックの立ち下がりエッジから DCLK 立ち上がりエッジまで | 1.4 + TS/4 | 1.7 + TS/4 | 2 + TS/4 | ns |
tADC | ADC レイテンシ | DDR LVDS、通常モード | 38 | ADC クロック サイクル | ||
DDR LVDS、低レイテンシ モード | 4 | |||||
タイムスタンプ:入力から LVDS 出力まで | DDR LVDS | 8 | ||||
tDIG | デジタル レイテンシ:インターフェイスおよびデシメーション | DDC バイパス | 5 | 出力クロック サイクル | ||
1/2 のデシメーション (実数または複素数) | 24 | |||||
1/4、1/8 のデシメーション (実数または複素数) | 49 | |||||
1/16~1/32768 のデシメーション (実数または複素数) | 50 | |||||
シリアル プログラミング インターフェイス (SCLK, SEN, SDIO) - 入力 | ||||||
fCLK(SCLK) | シリアル クロック周波数 | 1 | 20 | MHz | ||
tSLOADS | SEN 立ち下がりエッジから SCLK 立ち上がりエッジまでのセットアップ時間 | 10 | ns | |||
tSLOADH | SCLK 立ち上がりエッジから SEN 立ち上がりエッジまでのホールド時間 | 10 | ns | |||
tDSU | SDIO から SCLK 立ち上がりエッジまでのセットアップ時間 | 10 | ns | |||
tDH | SCLK 立ち上がりエッジから SDIO までのホールド時間 | 10 | ns | |||
シリアル プログラミング インターフェイス (SDIO) - 出力 | ||||||
t(OZD) | SDIO トライステートから駆動へ | 10 | ns | |||
t(ODZ) | SDIO データからトライステートへ | 14 | ns | |||
t(OD) | SDIO は SCLK の立ち下がりエッジから有効 | 10 | ns | |||
タイミング:SYSREF | ||||||
ts(SYSREF) | セットアップ時間:SYSREF 有効から CLKP/M 立ち上がりエッジまで | 100 | ps | |||
th(SYSREF) | ホールド時間:CLKP/M 立ち上がりエッジから SYSREF 無効まで | 100 | ps | |||
インターフェイス タイミング:DDR および SLVDS | ||||||
tDV | データ有効時間:データ遷移から DCLK 遷移まで | FS = 500MSPS | 0.465 | 0.68 | 0.905 | ns |
FS = 250MSPS | 0.905 | 1.16 | 1.415 | ns | ||
tDI | データ無効時間:DCLK 遷移からデータ遷移まで | FS = 500MSPS | 0.095 | 0.32 | 0.535 | ns |
FS = 250MSPS | 0.615 | 0.84 | 1.065 | ns |