JAJSQ55A april   2023  – june 2023 AFE7901

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4概要 (続き)
  6. 5Revision History
  7. 6Pin Configuration and Functions
  8. 7Specifications
    1. 7.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2  ESD Ratings
    3. 7.3  Recommended Operating Conditions
    4. 7.4  Thermal Information AFE79xx
    5. 7.5  Transmitter Electrical Characteristics
    6. 7.6  RF ADC Electrical Characteristics
    7. 7.7  PLL/VCO/Clock Electrical Characteristics
    8. 7.8  Digital Electrical Characteristics
    9. 7.9  Power Supply Electrical Characteristics
    10. 7.10 Timing Requirements
    11. 7.11 Switching Characteristics
    12. 7.12 Typical Characteristics
      1. 7.12.1  RX Typical Characteristics 30 MHz and 400 MHz
      2. 7.12.2  RX Typical Characteristics at 800 MHz
      3. 7.12.3  RX Typical Characteristics 1.75 GHz to 1.9 GHz
      4. 7.12.4  RX Typical Characteristics 2.6 GHz
      5. 7.12.5  RX Typical Characteristics 3.5 GHz
      6. 7.12.6  RX Typical Characteristics 4.9 GHz
      7. 7.12.7  RX Typical Characteristics 6.8 GHz
      8. 7.12.8  TX Typical Characteristics at 30 MHz and 400 MHz
      9. 7.12.9  TX Typical Characteristics at 800 MHz
      10. 7.12.10 TX Typical Characteristics at 1.8 GHz
      11. 7.12.11 TX Typical Characteristics at 2.6 GHz
      12. 7.12.12 TX Typical Characteristics at 3.5 GHz
      13. 7.12.13 TX Typical Characteristics at 4.9 GHz
      14. 7.12.14 TX Typical Characteristics at 7.1 GHz
      15. 7.12.15 PLL and Clock Typical Characteristics
  9. 8Device and Documentation Support
    1. 8.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 8.2 サポート・リソース
    3. 8.3 Trademarks
    4. 8.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 8.5 用語集
  10. 9Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.4 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。