JAJSLR5E december   2011  – april 2021 BQ2946

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Device Options
  7. 6 Pin Configuration and Functions
  8. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Sense Positive Input for V1
      2. 8.3.2 Output Drive, OUT
      3. 8.3.3 Supply Input, VDD
      4. 8.3.4 Thermal Pad, PWRPAD
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 NORMAL Mode
      2. 8.4.2 OVERVOLTAGE Mode
      3. 8.4.3 Customer Test Mode
  10.   Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Application Configuration
      2. 9.1.2 30
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curves
    3. 9.3 System Example
  11.   Power Supply Recommendations
  12. 9 Layout
    1. 9.1 Layout Guidelines
    2. 9.2 Layout Example
  13. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 10.2 Receiving Notification of Documentation Updates
    3. 10.3 サポート・リソース
    4. 10.4 Trademarks
    5. 10.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 10.6 用語集
  14.   Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

10.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。