JAJSUZ1E February   1998  – July 2024 CD54HC4066 , CD74HC4066 , CD74HCT4066

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Absolute Maximum Ratings
  7. 6 ESD Ratings
  8. 7 Thermal Information
  9. 8 Recommended Operating Conditions
  10. 9 Electrical Characteristics: HC Devices
  11. 10Electrical Characteristics: HCT Devices
  12. 11Switching Characteristics HC
  13. 12Switching Characteristics HCT
  14. 13Analog Channel Specifications
  15. 14Analog Test Circuits
  16. 15Test Circuits and Waveforms
  17. 16Detailed Description
    1. 16.1 Functional Block Diagram
    2. 16.2 Device Functional Modes
  18. 17Device and Documentation Support
    1. 17.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 17.2 サポート・リソース
    3. 17.3 Trademarks
    4. 17.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 17.5 用語集
  19. 18Revision History
  20. 19Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

17.4 静電気放電に関する注意事項

CD54HC4066 CD74HC4066 CD74HCT4066 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。