JAJSGQ4G april   2010  – june 2023 DLPA200

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Device Configurations Table
  7. 6 Pin Configuration and Functions
  8. 7 Specifications
    1. 7.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2  ESD Ratings
    3. 7.3  Recommended Operating Conditions
    4. 7.4  Thermal Information
    5. 7.5  Electrical Characteristics Control Logic
    6. 7.6  5-V Linear Regulator
    7. 7.7  Bias Voltage Boost Converter
    8. 7.8  Reset Voltage Buck-Boost Converter
    9. 7.9  VOFFSET/DMDVCC2 Regulator
    10. 7.10 Switching Characteristics
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 5-V Linear Regulator
      2. 8.3.2 Bias Voltage Boost Converter
      3. 8.3.3 Reset Voltage Buck-Boost Converter
      4. 8.3.4 VOFFSET/DMDVCC2 Regulator
      5. 8.3.5 Serial Communications Port (SCP)
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Component Selection Guidelines
  11. 10Power Supply Recommendations
    1. 10.1 Power Supply Rail Guidelines
  12. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
      1. 11.1.1 Grounding Guidelines
    2. 11.2 Thermal Considerations
  13. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Support
      1. 12.1.1 Device Nomenclature
    2. 12.2 Documentation Support
      1. 12.2.1 Related Documentation
    3. 12.3 サポート・リソース
    4. 12.4 Trademarks
    5. 12.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 12.6 用語集
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。