メカニズムおよびスレッショルド：オン状態診断 (OLA) により、ハイサイド還流時にアクティブ状態での開放負荷検出が可能です。このハイサイド負荷には、 VM に直接接続されるもの、または、もう一方のハーフブリッジのハイサイド FET を経由するものが含まれます。PWM スイッチング遷移中、 LS FET がオフになると、誘導性負荷電流が HS ボディ・ダイオードを通じて VM に還流します。HS FET がオンになる前、短時間のデッドタイム中に、デバイスは、VM を超える電圧スパイクが OUTx で発生するかどうかを検知します。この電圧スパイクが観測されるためには、この負荷電流は、FET ドライバによってアサートされる出力のプルダウン電流 (IPD_OLA) よりも大きくなる必要があります。この電圧スパイクが存在しない還流スイッチング・サイクルが「3回」連続する場合、負荷インダクタンスの喪失または負荷抵抗の増加を意味しており、 OLA フォルトとして検出されます。
動作：
nFAULT ピンは LOW にアサート
出力 - 通常機能を維持
IPROPI ピン - 通常機能を維持
再試行とラッチのいずれかに応答を設定可能再試行設定では、還流スイッチング・サイクル中に電圧スパイクが「3回」連続して検出されると、 OLA フォルトが自動的にクリアされます。