JAJSD42B February 2017 – December 2017 DRV8320 , DRV8320R , DRV8323 , DRV8323R
PRODUCTION DATA.
GHxピンとGLxピンが監視されているため、tDRIVE時間の経過後に外部MOSFETゲートの電圧が増加も減少もしなければ、ゲート・ドライバ障害が検出されます。このような障害は、GHxまたはGLxピンがPGND、SHx、またはVMピンと短絡している場合に発生します。また、選択したIDRIVE設定が外部MOSFETをtDRIVE期間中にオンにするのに十分ではない場合にも、ゲート・ドライバ障害が発生する可能性があります。ゲート・ドライバ障害が検出されると、すべての外部MOSFETがディスエーブルになり、nFAULTピンがLowになります。さらに、SPIレジスタでは、FAULT、GDF、および対応するVGSビットがHighにラッチされます。ゲート・ドライバの障害状態が解消され、CLR_FLTビットまたはENABLEリセット・パルス(tRST)のいずれかによって障害クリア・コマンドが実行されると、通常動作が再開されます(ゲート・ドライバの動作が再開され、nFAULTピンが解放される)。SPIデバイスでは、DIS_GDFビットをHighに設定すると、この保護機能がディスエーブルになります。
ゲート・ドライバ障害が発生する場合は、選択したIDRIVEまたはtDRIVE設定が、外部MOSFETに必要なスルー・レートに対して低すぎる可能性があります。このような場合のゲート・ドライバ障害は、IDRIVEまたはtDRIVEの設定値を増やすことで解決できます。また、外部MOSFETのゲート-ソース間で短絡が発生している場合は、MOSFETゲートがオンにならないのでゲート・ドライバ障害が通知されます。