JAJST80 February   2024 ESD652-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4Pin Configuration and Functions
  6. 5Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings - AEC Specifications
    3. 5.3 ESD Ratings - IEC Specifications
    4. 5.4 ESD Ratings - ISO Specifications
    5. 5.5 Recommended Operating Conditions
    6. 5.6 Thermal Information
    7. 5.7 Electrical Characteristics
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. 6Application and Implementation
    1. 6.1 Application Information
  8. 7Device and Documentation Support
    1. 7.1 Documentation Support
      1. 7.1.1 Related Documentation
    2. 7.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 7.3 サポート・リソース
    4. 7.4 Trademarks
    5. 7.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 7.6 用語集
  9. 8Revision History
  10. 9Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • DBZ|3
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

5.6 Thermal Information

THERMAL METRIC(1) ESD652(Q1) UNIT
DBZ (SOT-23)
3 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 249.2 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 129.7 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 83.1 °C/W
ΨJT Junction-to-top characterization parameter 24.2 °C/W
ΨJB Junction-to-board characterization parameter 82.5 °C/W
RθJC(bot) Junction-to-case (bottom) thermal resistance NA °C/W
(1) For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.