JAJSG41A Septmeber   2018  – June 2019 HD3SS3212-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      概略回路図
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 概要（続き）
  6. 6 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  7. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 High-Speed Performance Parameters
    7. 7.7 Switching Characteristics
  8. 8 Parameter Measurement Information
  9. 9 Detailed Description
    1. 9.1 Overview
    2. 9.2 Functional Block Diagram
    3. 9.3 Feature Description
      1. 9.3.1 Output Enable and Power Savings
    4. 9.4 Device Functional Modes
  10. 10Application and Implementation
    1. 10.1 Application Information
    2. 10.2 Typical Applications
      1. 10.2.1 Down Facing Port for USB3.1 Type C
        1. 10.2.1.1 Design Requirements
        2. 10.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 10.2.1.3 Application Curves
    3. 10.3 Systems Examples
      1. 10.3.1 Up Facing Port for USB 3.2 Type C
      2. 10.3.2 PCIe/SATA/USB
      3. 10.3.3 PCIE/eSATA
      4. 10.3.4 USB/eSATA
  11. 11Power Supply Recommendations
  12. 12Layout
    1. 12.1 Layout Guidelines
    2. 12.2 Layout Example
  13. 13デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 13.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 13.2 コミュニティ・リソース
    3. 13.3 商標
    4. 13.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 13.5 Glossary
  14. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • RKS|20
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.1 Absolute Maximum Ratings

over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)(1)
MIN MAX UNIT
VCC Supply voltage –0.5 4 V
Voltage Differential I/O –0.5 2.5 V
Control pins –0.5 VCC+ 0.5
Tstg Storage temperature –65 150 °C
(1) Stresses beyond those listed under Absolute Maximum Ratings may cause permanent damage to the device. Theseare stress ratings only, which do not imply functional operation of the device at these or anyother conditions beyond those indicated under Recommended OperatingConditions. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods mayaffect device reliability.