JAJSE09K March   2009  – November 2023 INA210-Q1 , INA211-Q1 , INA212-Q1 , INA213-Q1 , INA214-Q1 , INA215-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
    6. 5.6 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1 基本的な接続
      2. 6.3.2 RS の選択
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 入力フィルタリング
      2. 6.4.2 INA21x-Q1 シリーズのシャットダウン
      3. 6.4.3 REF 入力インピーダンスの影響
      4. 6.4.4 同相過渡電圧が 26V を超える場合の INA21x-Q1 の使用
      5. 6.4.5 過渡耐性の向上
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 単方向動作
        1. 7.2.1.1 設計要件
        2. 7.2.1.2 詳細な設計手順
        3. 7.2.1.3 アプリケーション曲線
      2. 7.2.2 双方向動作
        1. 7.2.2.1 設計要件
        2. 7.2.2.2 詳細な設計手順
        3. 7.2.2.3 アプリケーション曲線
  9. 8 電源に関する推奨事項
  10. 9 レイアウト
    1. 9.1 レイアウトのガイドライン
    2. 9.2 レイアウト例
  11. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 ドキュメントのサポート
      1. 10.1.1 関連資料
    2. 10.2 関連リンク
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 商標
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  12. 11改訂履歴
  13. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.4.5 過渡耐性の向上

注意:

デバイスの入力ピンに 2kV/ms を超える過剰な dV/dt の大きな入力過渡電圧が発生するアプリケーションでは、バージョン A デバイスの内部 ESD 構造が損傷する可能性があります。

大きい入力過渡電圧で損傷が発生するのは、このような過渡電圧が入力で発生すると、内部 ESD 構造がグランドにラッチされるからです。ほとんどの電流検出アプリケーションでは大きな電流が存在するため、入力過渡によりトリガされ、グランドに短絡した ESD 構造に大電流が流れると、シリコンが損傷します。ラッチ状態を回避するため、外部フィルタリングを使用して、過渡信号が入力に到達する前に減衰させることができます。外付けの直列入力抵抗がゲイン誤差の精度に大きな影響を与えないように注意してください。精度を保つため、可能であれば抵抗は 10Ω 未満にしてください。このフィルタには、DC 抵抗値の低いフェライト ビーズが推奨されます。DC での抵抗が 10Ω 未満で、100MHz～200MHz の抵抗が 600Ω を超えるフェライト・ビーズをお勧めします。高周波数領域で十分な減衰量が確保されるように、このフィルタのコンデンサ値は 0.01µF～0.1µF にすることをお勧めします。図 6-7 に、この保護方式をに示します。

GUID-5B939574-27F8-4658-BF6F-53EC9BD3D55D-low.gif図 6-7 過渡保護

大きな過渡信号が発生する可能性のあるアプリケーションでデバイスを保護するために追加するこれらの外部部品のコストを最小限に抑えるため、バージョン B および C のデバイスは、このラッチ状態の影響を受けにくい新しい ESD 構造を採用しています。バージョン B および C デバイスでは、損傷を引き起こすこれらのラッチ状態が持続することはないため、これらのデバイスはバージョン A デバイスよりも過渡電圧の影響を受けにくく、これらのアプリケーションにはバージョン B および C デバイスの方が適しています。