JAJSON6B July 2023 – December 2025 INA740B
PRODUCTION DATA
| パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 標準値 | 最大値 | 単位 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 入力 | |||||||
| CMRR | 同相除去 | –0.1V < VCM < 85V、 TA = –40°C ~ +125°C |
±0.5 | ±1.25 | mA/V | ||
| Ios | 入力オフセット電流 | TCT > 280µs | ±7.5 | ±62.5 | mA | ||
| dVos/dT | 入力オフセット電流ドリフト | TA = –40°C ~ +125°C | ±5 | ±30 | μV/℃ | ||
| PSRR | 入力オフセット電流と電源との関係 | VS = ±2.7V ~ ±5.5V、TA = –40℃ ~ +125℃ | ±0.1 | ±4 | mA/V | ||
| Vos_bus | VBUS オフセット電圧 | VBUS = 20mV | ±2 | ±5 | mV | ||
| dVos/dT | VBUS オフセット電圧ドリフト | TA = –40°C ~ +125°C | ±20 | ±100 | µV/°C | ||
| PSRR | VBUS オフセット電圧と電源 | VS = 2.7 V~5.5 V | ±1.1 | ±3 | mV/V | ||
| DC 精度 | |||||||
| GSERR | システム電流センス ゲイン誤差 | ISENSE = –25A ~ 25A、VCM = 24V、TA = 25°C | ±0.1 | ±1.25 | % | ||
| GS_DRFT | システム電流センス ゲイン誤差ドリフト | -40℃ ≤ TA ≤ 125℃ | ±75 | ppm/°C | |||
| GBERR | VBUS 電圧のゲイン誤差 | VBUS = 0V ~ 85V | ±0.01 | ±0.3 | % | ||
| VBUS = 0V ~ 85V、 –40°C ≤ TA ≤ 125°C |
±0.01 | ±0.8 | % | ||||
| GB_DRFT | VBUS 電圧のゲイン誤差ドリフト | -40℃ ≤ TA ≤ 125℃ | ±50 | ppm/°C | |||
| ZBUS | VBUS ピンの入力インピーダンス | アクティブな変換でデバイスがイネーブル | 1 | MΩ | |||
| PTME | 電力の合計測定誤差 (TME) | TA = 25°C、フル スケール時 | ±1.6 | % | |||
| ETME | エネルギーと充電の TME | TA = 25℃、フル スケール時 | ±2.1 | % | |||
| ADC の分解能 | 16 | ビット | |||||
| 1LSB ステップ サイズ | 電流 | 1.2 | mA | ||||
| バス電圧 | 3.125 | mV | |||||
| 温度 | 125 | m℃ | |||||
| 電源 | 240 | µW | |||||
| エネルギー | 3.84 | mJ | |||||
| 充電 | 75 | µC | |||||
| TCT | ADC 変換時間(1) | 変換時間フィールド = 0h | 50 | µs | |||
| 変換時間フィールド = 1h | 84 | ||||||
| 変換時間フィールド = 2h | 150 | ||||||
| 変換時間フィールド = 3h | 280 | ||||||
| 変換時間フィールド = 4h | 540 | ||||||
| 変換時間フィールド = 5h | 1052 | ||||||
| 変換時間フィールド = 6h | 2074 | ||||||
| 変換時間フィールド = 7h | 4120 | ||||||
| INL | 積分非直線性 | バス電圧の測定値 | ±2 | m% | |||
| DNL | 微分非直線性 | バス電圧の測定値 | 0.2 | LSB | |||
| クロック ソース | |||||||
| FOSC | 内部発振器の周波数 | 1 | MHz | ||||
| OSCTOL | 内部発振器の周波数公差 | TA = 25℃ | ±0.5 | % | |||
| TA = –40°C ~ +125°C | ±1 | % | |||||
| 温度センサ | |||||||
| 測定範囲 | -40 | +150 | °C | ||||
| 温度精度 | TA = 25℃ | ±0.15 | ±1.5 | °C | |||
| TA = -40℃~+125℃ | ±0.2 | ±2.5 | °C | ||||
| 内蔵シャント | |||||||
| 内部ケルビン抵抗 | SH+ から SH– まで、TA = 25°C | 700 | 800 | 950 | µΩ | ||
| 複数のピン抵抗 | IS+ ~ IS–、TA = 25°C | 800 | 1000 | 1300 | µΩ | ||
| 最大連続電流(2) | -40℃ ≤ TA ≤ 125℃ | ±25 | A | ||||
| 短時間の過負荷変化 | ISENSE = 50A (5 秒間) | ±0.003 | % | ||||
| 温度サイクルに起因する変化 | –65°C ≤ TA ≤ 150°C、500 サイクル | ±0.05 | % | ||||
| 半田熱に対する抵抗の変化 | 260°C 半田付け、10 秒 | ±0.1 | % | ||||
| 高温の露出変化 | 1000 時間、TA = 150℃ | ±0.015 | % | ||||
| 電源 | |||||||
| VS | 電源電圧 | 2.7 | 5.5 | V | |||
| VPOR | POR電圧レベル | 電源立ち上がり | 1.26 | V | |||
| IQ | 静止時電流 | ISENSE = 0V | 640 | 750 | µA | ||
| ISENSE = 0V、TA = –40°C ~ +125°C | 1 | mA | |||||
| IQSD | 静止時電流、シャットダウン | シャットダウン モード | 2.8 | 5 | µA | ||
| TPOR | デバイスの起動時間 | パワーアップ (NPOR) | 300 | µs | |||
| シャットダウン モードから | 60 | ||||||
| デジタル入出力 | |||||||
| VIH | ロジック入力レベル、High | SDA、SCL | 1.2 | 5.5 | V | ||
| VIL | ロジック入力レベル、Low | GND | 0.4 | V | |||
| VOL | ロジック出力レベル、Low | IOL = 3mA | GND | 0.4 | V | ||
| IIO_LEAK | デジタル リーク入力電流 | 0 ≦ VIN ≦ VS | -1 | 1 | µA | ||