JAJSR56H May   2008  – August 2023 ISO15 , ISO35

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Pin Configuration and Functions
  7. 6 Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Thermal Information
    5. 6.5  Power Ratings
    6. 6.6  Insulation Specifications
    7. 6.7  Safety-Related Certifications
    8. 6.8  Safety Limiting Values
    9. 6.9  Electrical Characteristics: Driver
    10. 6.10 Electrical Characteristics: Receiver
    11. 6.11 Supply Current
    12. 6.12 Switching Characteristics: Driver
    13. 6.13 Switching Characteristics: Receiver
    14. 6.14 Insulation Characteristics Curves
    15. 6.15 Typical Characteristics
  8. 7 Parameter Measurement Information
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagrams
    3. 8.3 Device Functional Modes
      1. 8.3.1 Device I/O Schematics
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curve
  11.   Power Supply Recommendations
  12. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  13. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Documentation Support
      1. 11.1.1 Related Documentation
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 Trademarks
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 用語集
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

4 Revision History

Changes from Revision G (March 2015) to Revision H (August 2023)

  • CSA 規格を CSA 62368-1 に更新、VDE 規格を DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17) に更新Go
  • ドキュメント全体にわたって表、図、相互参照の採番方法を更新Go
  • Updated Thermal Characteristics, Safety Limiting Values, and Thermal Derating Curves to provide more accurate system-level thermal calculationsGo

Changes from Revision F (January 2012) to Revision G (October 2014)

  • 「ピン構成および機能」セクション、「ESD 定格」表、「機能説明」セクション、「デバイスの機能モード」セクション、「アプリケーションと実装」セクション、「電源に関する推奨事項」セクション、「レイアウト」セクション、「デバイスおよびドキュメントのサポート」セクション、「メカニカル、パッケージ、および注文情報」セクションを追加 Go
  • VDE 規格を DIN V VDE V 0884-10 (VDE V 0884-10):2006-12 に変更Go

Changes from Revision E (April 2010) to Revision F (January 2012)

  • 「特長」の項目を「IEC 60747-5-2 (VDE 0884, Rev 2) に準拠した 4000 Vpeak、560 Vpeak VIORM」を「IEC 60747-5-2 (VDE 0884, Rev 2) に準拠した 4000 VPK VIOTM、560 VPK VIORM」に変更Go
  • 「概要」にある「デバイスの対称型絶縁バリアは、......テスト済みです」という記述を「デバイスの対称型絶縁バリアは、....4000 VPK (VDE に準拠) および 2500 VRMS (UL および CSA に準拠) の絶縁を行うことがテスト済みです」に変更Go
  • Updated electrical and switching characteristics to match device performanceGo

Changes from Revision D (March 2009) to Revision E (April 2010)

  • データシートにデバイス ISO15M および ISO35M を追加Go
  • 「概要」にある「ISO15 および ISO35 は -40℃～85℃での使用が認定済みです」という記述を「周囲温度の定格は、ISO15 および ISO35 では -40℃～85℃と規定されており、ISO15M および ISO35M では -55℃～125℃に拡張されています」に変更Go
  • Added the Driver output pins Note for Figure 7-1 through Figure 7-4 Go
  • Changed the Driver output pins Note for Figure 7-5 through Figure 7-6 Go

Changes from Revision B (July 2008) to Revision C (December 2008)

  • IEC による承認の項目を追加Go

Changes from Revision A (June 2008) to Revision B (July 2008)

  • 以下のように変更：「4000 Vpeak 絶縁」から「UL 1577 および IEC 60747-5-2 (VDE 0884, Rev 2) に準拠した 4000 Vpeak 絶縁、560 Vpeak VIORM」Go
  • Changed Figure 7-13, Full-Duplex Common-Mode Transient Immunity Test CircuitGo