デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
ISO5451-Q1は、IGBTおよびMOSFET用の 5.7kVRMS、強化絶縁ゲート・ドライバで、2.5Aのソース電流と5Aのシンク電流を供給できます。入力側は、単一の3V~5.5V電源で動作します。出力側は、最低15V、最高30Vの電源を供給できます。2つの相補CMOS入力により、ゲート・ドライバの出力状態が制御されます。伝搬時間が76nsと短いため、出力ステージを正確に制御できます。
内部不飽和化(DESAT)フォルト検出により、IGBTが過負荷状況にあることが認識されます。DESATを検出すると、ゲート・ドライバ出力がVEE2ポテンシャルまでLOWに駆動され、IGBTはただちにオフになります。
型番 | パッケージ | 本体サイズ(公称) |
---|---|---|
ISO5451-Q1 | SOIC (16) | 10.30mm×7.50mm |
日付 | 改訂内容 | 注 |
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2016年9月 | * | 初版 |
不飽和化がアクティブのとき、絶縁バリアを通してフォルト信号が送信され、入力側のFLT出力がLOWになって、アイソレータ入力がブロックされます。このFLT出力状況はラッチされ、RST入力のLOWアクティブのパルスによりリセットできます。
バイポーラ電源による通常動作時にIGBTがオフになると、出力はVEE2にハード・クランプされます。出力電源がユニポーラの場合、アクティブなミラー・クランプを使用でき、低インピーダンスのパスを通してミラー電流をシンクできるため、高電圧の過渡状況でIGBTが動的にオンになることが防止されます。
ゲート・ドライバの動作準備は、入力側と出力側の電源を監視する2つの低電圧誤動作防止回路により制御されます。いずれかの側の電源が不十分な場合はRDY出力がLOWになり、そうでない場合はこの出力がHIGHになります。
ISO5451-Q1は、16ピンのSOICパッケージで供給されます。デバイスの動作は、-40℃~125℃の周囲温度範囲について規定されています。
PIN | I/O | DESCRIPTION | |
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NAME | NO. | ||
VEE2 | 1, 8 | - | Output negative supply. Connect to GND2 for Unipolar supply application. |
DESAT | 2 | I | Desaturation voltage input |
GND2 | 3 | - | Gate drive common. Connect to IGBT emitter. |
NC | 4 | - | Not connected |
VCC2 | 5 | - | Most positive output supply potential. |
OUT | 6 | O | Gate drive voltage output |
CLAMP | 7 | O | Miller clamp output |
GND1 | 9, 16 | - | Input ground |
IN+ | 10 | I | Non-inverting gate drive voltage control input |
IN- | 11 | I | Inverting gate drive voltage control input |
RDY | 12 | O | Power-good output, active high when both supplies are good. |
FLT | 13 | O | Fault output, low-active during DESAT condition |
RST | 14 | I | Reset input, apply a low pulse to reset fault latch. |
VCC1 | 15 | - | Positive input supply (3 V to 5.5 V) |