JAJSEF9 December   2017 LM25575-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      簡略化されたアプリケーション回路図
  4. 改訂履歴
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 High Voltage Start-Up Regulator
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Shutdown and Stand-by Mode
      2. 7.4.2 Error Amplifier and PWM Comparator
      3. 7.4.3 Ramp Generator
      4. 7.4.4 Maximum Duty Cycle and Input Drop-out Voltage
      5. 7.4.5 Current Limit
      6. 7.4.6 Soft-Start
      7. 7.4.7 Boost Pin
      8. 7.4.8 Thermal Protection
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
      1. 8.1.1  External Components
      2. 8.1.2  R3 (RT)
      3. 8.1.3  L1
      4. 8.1.4  C3 (CRAMP)
      5. 8.1.5  C9, C10
      6. 8.1.6  D1
      7. 8.1.7  C1, C2
      8. 8.1.8  C8
      9. 8.1.9  C7
      10. 8.1.10 C4
      11. 8.1.11 R5, R6
      12. 8.1.12 R1, R2, C12
      13. 8.1.13 R7, C11
      14. 8.1.14 R4, C5, C6
      15. 8.1.15 BIas Power Dissipation Reduction
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Typical Schematic for High Frequency (1 MHz) Application
  9. Layout
    1. 9.1 Layout Guidelines
      1. 9.1.1 PCB Layout and Thermal Considerations
    2. 9.2 Layout Example
  10. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 デバイス・サポート
      1. 10.1.1 開発サポート
        1. 10.1.1.1 WEBENCH®ツールによるカスタム設計
    2. 10.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 10.3 コミュニティ・リソース
    4. 10.4 商標
    5. 10.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 10.6 Glossary
  11. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

esds-image

すべての集積回路は、適切なESD保護方法を用いて、取扱いと保存を行うようにして下さい。

静電気放電はわずかな性能の低下から完全なデバイスの故障に至るまで、様々な損傷を与えます。高精度の集積回路は、損傷に対して敏感であり、極めてわずかなパラメータの変化により、デバイスに規定された仕様に適合しなくなる場合があります。