JAJSS15C November 2023 – October 2024 LMK3H0102
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
パラメータ | テスト条件 | スタンダード モード | ファスト モード | 単位 | |||
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最小値 | 最大値 | 最小値 | 最大値 | ||||
VIL | 入力 Low 電圧 | -0.3 | 0.3 × VDD | -0.3 | 0.3 × VDD | V | |
VIH | 入力 High 電圧 | 0.7 × VDD | VDD + 0.3 | 0.7 × VDD | VDD + 0.3 | V | |
Vhys | シュミット トリガ入力のヒステリシス | 0.05 × VDD | V | ||||
VOL1 | Low レベル出力電圧 1 | 3mA のシンク電流の場合VDD > 2V | 0 | 0.4 | 0 | 0.4 | V |
VOL2 | Low レベル出力電圧 2 | 2mA のシンク電流の場合VDD ≤ 2V | 0 | 0.2 x VDD | V | ||
IOL | Low レベル出力電流 | VOL = 0.4 V | 3 | 3 | mA | ||
VOL = 0.6 V | 6 | mA | |||||
tOF | VIHmin から VILmax への出力立ち下がり時間 | 250 | 20 × (VDD/5.5V) | 250 | ns | ||
tSP | 入力フィルタにより抑制されるスパイクのパルス幅 | 0 | 50 | ns | |||
Ii | 各 I/O ピンの入力電流 | 0.1 × VDD < VIN < 0.9 × VDDmax | -10 | 10 | -10 | 10 | µA |
Ci | 各 I/O ピンの静電容量 | 10 | 10 | pF | |||
fSCL | SCL クロック周波数 | 0 | 100 | 0 | 400 | kHz | |
tHD-STA | (繰り返し) START 条件のホールド時間 | この時間が経過すると、最初のクロック パルスが生成されます | 4 | 0.6 | μs | ||
tlow | SCL クロックの Low 期間 | 4.7 | 1.3 | μs | |||
thigh | SCL クロックの High 期間 | 4 | 0.6 | μs | |||
tSU-STA | 繰り返し START 条件のセットアップ時間 | 4.7 | 0.6 | μs | |||
tHD-DAT | データ ホールド時間 | I2C バス デバイス | 0 | 0 | μs | ||
tSU-DAT | データ セットアップ時間 | 0.25 | 0.1 | μs | |||
tR | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち上がり時間 (1) | 300 | 20 | 300 | ns | ||
tF | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち下がり時間 (1) | 300 | 20 × (VDD / 5.5 V) | 300 | ns | ||
tSU-STO | STOP 条件のセットアップ時間 | 4 | 0.6 | μs | |||
tBUF | STOP 条件と START 条件の間のバス フリー時間 | 4.7 | 1.3 | μs | |||
CB | 各バス ラインの容量性負荷 | 400 | 400 | pF | |||
tVD-DAT | データ有効時間 | 3.45 | 0.9 | μs | |||
tVD-ACK | データ有効アクノリッジ時間 | 3.45 | 0.9 | μs | |||
VNL | Low レベルでのノイズ マージン | ヒステリシスを含む、接続された各デバイスについて | 0.1 x VDD | 0.1 × VDD | V | ||
VNH | High レベルでのノイズ マージン | ヒステリシスを含む、接続された各デバイスについて | 0.2 x VDD | 0.2 × VDD | V |