JAJSOJ5B October   2023  – December 2024 LP5811

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 デバイスの比較
  6. 5 ピン構成および機能
  7. 6 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報
    5. 6.5 電気的特性
    6. 6.6 タイミング要件
    7. 6.7 代表的特性
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 同期整流昇圧コンバータ
        1. 7.3.1.1 低電圧誤動作防止
        2. 7.3.1.2 イネーブルとソフト・スタート
        3. 7.3.1.3 スイッチング周波数
        4. 7.3.1.4 電流制限動作
        5. 7.3.1.5 昇圧 PWM モード
        6. 7.3.1.6 昇圧 PFM モード
      2. 7.3.2 アナログ調光
      3. 7.3.3 PWM調光
      4. 7.3.4 自律型アニメーション エンジン制御
        1. 7.3.4.1 アニメーション エンジン パターン
        2. 7.3.4.2 スロープ制御
        3. 7.3.4.3 アニメーション エンジン ユニット (AEU)
        4. 7.3.4.4 アニメーション ポーズ ユニット (APU)
      5. 7.3.5 保護および診断
        1. 7.3.5.1 過電圧保護
        2. 7.3.5.2 グランドへの出力短絡保護
        3. 7.3.5.3 LED 開放検出
        4. 7.3.5.4 LED 短絡検出
        5. 7.3.5.5 サーマル・シャットダウン
    4. 7.4 デバイスの機能モード
    5. 7.5 プログラミング
    6. 7.6 レジスタ マップ
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 アプリケーション
      2. 8.2.2 設計パラメータ
      3. 8.2.3 詳細な設計手順
        1. 8.2.3.1 インダクタの選択
        2. 8.2.3.2 出力コンデンサの選択
        3. 8.2.3.3 入力コンデンサの選択
        4. 8.2.3.4 プログラム手順
        5. 8.2.3.5 プログラミング例
      4. 8.2.4 アプリケーション特性の波形
    3. 8.3 電源に関する推奨事項
    4. 8.4 レイアウト
      1. 8.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.4.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.1 絶対最大定格

自由気流での動作温度範囲内 (特に記述のない限り) (1)
最小値 最大値 単位
ピンでの電圧範囲 VIN、SW、VOUT -0.3 6 V
10 ns での SW スパイク -0.7 8 V
1 ns での SW スパイク -0.7 9 V
OUT0、OUT1、OUT2、OUT3 -0.3 6 V
EN、SCL、SDA、SYNC -0.3 6 V
TJ 接合部温度 -40 150 ℃
Tstg 保存温度 -65 150 ℃
(1) 「絶対最大定格」の範囲外の動作は、デバイスの永続的な損傷の原因となる可能性があります。「絶対最大定格」は、これらの条件において、または「推奨動作条件」に示された値を超える他のいかなる条件でも、本製品が正しく動作することを意味するものではありません。「絶対最大定格」の範囲内であっても「推奨動作条件」の範囲外で使用すると、デバイスが完全に機能しない可能性があり、デバイスの信頼性、機能、性能に影響を及ぼし、デバイスの寿命を縮める可能性があります。