JAJSFF4D May 2018 – December 2019 MSP430FR2153 , MSP430FR2155 , MSP430FR2353 , MSP430FR2355
PRODUCTION DATA.
MSP430FR215xおよびMSP430FR235xマイクロコントローラ(MCU)は、 MSP430™MCUバリュー・ライン・ポートフォリオに含まれる、センシングおよび測定アプリケーション向けの超低消費電力、低コスト・デバイスです。MSP430FR235xは、スマート・アナログ・コンボと呼ばれる4つの構成可能なシグナル・チェーン・モジュールを搭載しており、それぞれを12ビットDACまたは構成可能なプログラマブル・ゲイン・オペアンプとして使用することにより、個々のシステムの要求を満たしながら、部品点数とPCB占有面積を削減できます。また、12ビットのSAR ADCと2つのコンパレータも搭載しています。MSP430FR215x/MSP430FR235x MCUは、いずれも-40℃~105℃の拡張温度範囲に対応しているため、高温になる産業用機器ではFRAMデータ・ロギング機能を活用できます。拡張温度範囲への対応により、煙感知器、センサ・トランスミッタ、サーキット・ブレーカなどの開発で、それぞれの要件を満たすことができます。
MSP430FR215x/MSP430FR235x MCUには強力な16ビットRISC CPU、16ビット・レジスタ、および定数ジェネレータが搭載されており、最大限のコード効率を実現できます。また、デジタル制御発振器(DCO)により、低消費電力モードからアクティブ・モードへ通常、10µs未満でウェイクアップできます。
MSP430超低消費電力(ULP) FRAMマイクロコントローラ・プラットフォームは、独自の組み込みFRAMと包括的な超低消費電力のシステム・アーキテクチャを組み合わせたものであり、システム設計において性能の向上と消費電力の削減を両立できます。FRAMテクノロジは、RAMの低消費電力で高速な書き込み、柔軟性、耐久性と、フラッシュの不揮発性動作を併せ持つものです。
MSP430FR215x/MSP430FR235x MCUは、ハードウェアおよびソフトウェアの大規模なエコシステムによってサポートされており、リファレンス・デザインやサンプル・コードにより設計をすぐに開始できます。開発キットにはMSP-EXP430FR2355LaunchPad™開発キットと、MSP-TS430PT48 48ピン・ターゲット開発ボードが含まれます。また、TI は無償の MSP430Ware™ ソフトウェアも提供しており、Code Composer Studio™ IDE デスクトップのコンポーネントとして利用できます。また、TI Resource Explorer ではクラウド・バージョンを利用できます。MSP430 MCU には、広範囲のオンライン資料、トレーニング、および E2E™ サポート・フォーラムによるオンライン・サポートも用意されています。
モジュールの詳細な説明については、『MSP430FR4xx and MSP430FR2xx Family User's Guide』 (英語) を参照してください。
型番 | 動作温度範囲 | パッケージ | 本体サイズ(2) |
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MSP430FR2355TPT | -40℃~105℃ | LQFP (48) | 7mm×7mm |
MSP430FR2353TPT | |||
MSP430FR2155TPT | |||
MSP430FR2153TPT | |||
MSP430FR2355TRHA | -40℃~105℃ | VQFN(40) | 6mm×6mm |
MSP430FR2353TRHA | |||
MSP430FR2155TRHA | |||
MSP430FR2153TRHA | |||
MSP430FR2355TDBT | -40℃~105℃ | TSSOP (38) | 9.7mm×4.4mm |
MSP430FR2353TDBT | |||
MSP430FR2155TDBT | |||
MSP430FR2153TDBT | |||
MSP430FR2355TRSM | -40°C~105°C | VQFN (32) | 4mm×4mm |
MSP430FR2353TRSM | |||
MSP430FR2155TRSM | |||
MSP430FR2153TRSM |
CAUTION
電気的な過剰ストレスや、データやコード・メモリの不安定化を防止するため、デバイス・レベルのESD仕様に従って、システム・レベルのESD保護を適用する必要があります。詳細については、『MSP430™ System-Level ESD Considerations』 (英語) を参照してください。