JAJSE27 October   2017 MSP432E401Y

PRODUCTION DATA.  

  1. 1デバイスの概要
    1. 1.1 特長
    2. 1.2 アプリケーション
    3. 1.3 概要
    4. 1.4 機能ブロック図
  2. 2改訂履歴
  3. 3Device Characteristics
    1. 3.1 Related Products
  4. 4Terminal Configuration and Functions
    1. 4.1 Pin Diagram
    2. 4.2 Pin Attributes
    3. 4.3 Signal Descriptions
      1. Table 4-3 Signal Descriptions
    4. 4.4 GPIO Pin Multiplexing
    5. 4.5 Buffer Type
    6. 4.6 Connections for Unused Pins
  5. 5Specifications
    1. 5.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2  ESD Ratings
    3. 5.3  Recommended Operating Conditions
    4. 5.4  Recommended DC Operating Conditions
    5. 5.5  Recommended GPIO Operating Characteristics
    6. 5.6  Recommended Fast GPIO Pad Operating Conditions
    7. 5.7  Recommended Slow GPIO Pad Operating Conditions
    8. 5.8  GPIO Current Restrictions
    9. 5.9  I/O Reliability
    10. 5.10 Current Consumption
    11. 5.11 Peripheral Current Consumption
    12. 5.12 LDO Regulator Characteristics
    13. 5.13 Power Dissipation
    14. 5.14 Thermal Resistance Characteristics, 128-Pin PDT (TQFP) Package
    15. 5.15 Timing and Switching Characteristics
      1. 5.15.1  Load Conditions
      2. 5.15.2  Power Supply Sequencing
        1. 5.15.2.1 Power and Brownout
          1. Table 5-3 Power and Brownout Levels
          2. 5.15.2.1.1 VDDA Levels
          3. 5.15.2.1.2 VDD Levels
          4. 5.15.2.1.3 VDDC Levels
          5. 5.15.2.1.4 VDD Glitch Response
          6. 5.15.2.1.5 VDD Droop Response
      3. 5.15.3  Reset Timing
        1. Table 5-4 Reset Characteristics
      4. 5.15.4  Clock Specifications
        1. 5.15.4.1 PLL Specifications
          1. Table 5-5 Phase Locked Loop (PLL) Characteristics
          2. 5.15.4.1.1 PLL Configuration
        2. 5.15.4.2 PIOSC Specifications
        3. 5.15.4.3 Low-Frequency Oscillator Specifications
          1. Table 5-9 Low-Frequency Oscillator Characteristics
        4. 5.15.4.4 Hibernation Low-Frequency Oscillator Specifications
          1. Table 5-10 Hibernation External Oscillator (XOSC) Input Characteristics
          2. Table 5-11 Hibernation Internal Low-Frequency Oscillator Clock Characteristics
        5. 5.15.4.5 Main Oscillator Specifications
          1. Table 5-12 Main Oscillator Input Characteristics
        6. 5.15.4.6 Main Oscillator Specification WIth ADC
          1. Table 5-14 System Clock Characteristics With ADC Operation
        7. 5.15.4.7 System Clock Characteristics With USB Operation
          1. Table 5-15 System Clock Characteristics With USB Operation
      5. 5.15.5  Sleep Modes
        1. Table 5-16 Wake From Sleep Characteristics
        2. Table 5-17 Wake From Deep Sleep Characteristics
      6. 5.15.6  Hibernation Module
        1. Table 5-18 Hibernation Module Battery Characteristics
        2. Table 5-19 Hibernation Module Characteristics
        3. Table 5-20 Hibernation Module Tamper I/O Characteristics
      7. 5.15.7  Flash Memory
        1. Table 5-21 Flash Memory Characteristics
      8. 5.15.8  EEPROM
        1. Table 5-22 EEPROM Characteristics
      9. 5.15.9  Input/Output Pin Characteristics
        1. Table 5-23 Fast GPIO Module Characteristics
        2. Table 5-24 Slow GPIO Module Characteristics
        3. 5.15.9.1    Types of I/O Pins and ESD Protection
          1. 5.15.9.1.1 Hibernate WAKE pin
            1. Table 5-25 Pad Voltage and Current Characteristics for Hibernate WAKE Pin
          2. 5.15.9.1.2 Nonpower I/O Pins
            1. Table 5-26 Nonpower I/O Pad Voltage and Current Characteristics
      10. 5.15.10 External Peripheral Interface (EPI)
        1. Table 5-28 EPI SDRAM Characteristics
        2. Table 5-29 EPI SDRAM Interface Characteristics
        3. Table 5-30 EPI Host-Bus 8 and Host-Bus 16 Interface Characteristics
        4. Table 5-31 EPI General-Purpose Interface Characteristics
        5. Table 5-32 EPI PSRAM Interface Characteristics
      11. 5.15.11 Analog-to-Digital Converter (ADC)
        1. Table 5-33 Electrical Characteristics for ADC at 1 Msps
        2. Table 5-34 Electrical Characteristics for ADC at 2 Msps
      12. 5.15.12 Synchronous Serial Interface (SSI)
        1. Table 5-35 SSI Characteristics
        2. Table 5-36 Bi- and Quad-SSI Characteristics
      13. 5.15.13 Inter-Integrated Circuit (I2C) Interface
        1. Table 5-37 I2C Characteristics
      14. 5.15.14 Ethernet Controller
        1. 5.15.14.1 DC Characteristics
          1. Table 5-38 Ethernet PHY DC Characteristics
        2. 5.15.14.2 Clock Characteristics for Ethernet
          1. Table 5-39 MOSC 25-MHz Crystal Specification
          2. Table 5-40 MOSC Single-Ended 25-MHz Oscillator Specification
        3. 5.15.14.3 AC Characteristics
          1. Table 5-41 Ethernet Controller Enable and Software Reset Timing
          2. Table 5-42 100Base-TX Transmit Timing
          3. Table 5-43 10Base-T Normal Link Pulse Timing
          4. Table 5-44 Auto-Negotiation Fast Link Pulse (FLP) Timing
          5. Table 5-45 100Base-TX Signal Detect Timing
      15. 5.15.15 Universal Serial Bus (USB) Controller
        1. Table 5-46 ULPI Interface Timing
      16. 5.15.16 Analog Comparator
        1. Table 5-47 Analog Comparator Characteristics
        2. Table 5-48 Analog Comparator Characteristics
        3. Table 5-49 Analog Comparator Voltage Reference Characteristics
        4. Table 5-50 Analog Comparator Voltage Reference Characteristics
      17. 5.15.17 Pulse-Width Modulator (PWM)
        1. Table 5-51 PWM Timing Characteristics
      18. 5.15.18 Emulation and Debug
        1. Table 5-52 JTAG Characteristics
  6. 6Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Arm Cortex-M4F Processor Core
      1. 6.3.1 Processor Core
      2. 6.3.2 System Timer (SysTick)
      3. 6.3.3 Nested Vectored Interrupt Controller (NVIC)
      4. 6.3.4 System Control Block (SCB)
      5. 6.3.5 Memory Protection Unit (MPU)
      6. 6.3.6 Floating-Point Unit (FPU)
    4. 6.4 On-Chip Memory
      1. 6.4.1 SRAM
      2. 6.4.2 Flash Memory
      3. 6.4.3 ROM
      4. 6.4.4 EEPROM
      5. 6.4.5 Memory Map
    5. 6.5 Peripherals
      1. 6.5.1  External Peripheral Interface (EPI)
      2. 6.5.2  Cyclical Redundancy Check (CRC)
      3. 6.5.3  Advanced Encryption Standard (AES) Accelerator
      4. 6.5.4  Data Encryption Standard (DES) Accelerator
      5. 6.5.5  Secure Hash Algorithm/Message Digest Algorithm (SHA/MD5) Accelerator
      6. 6.5.6  Serial Communications Peripherals
        1. 6.5.6.1 Ethernet MAC and PHY
        2. 6.5.6.2 Controller Area Network (CAN)
        3. 6.5.6.3 Universal Serial Bus (USB)
        4. 6.5.6.4 Universal Asynchronous Receiver/Transmitter (UART)
        5. 6.5.6.5 Inter-Integrated Circuit (I2C)
        6. 6.5.6.6 Quad Synchronous Serial Interface (QSSI)
      7. 6.5.7  System Integration
        1. 6.5.7.1 Direct Memory Access (DMA)
        2. 6.5.7.2 System Control and Clocks
        3. 6.5.7.3 Programmable Timers
        4. 6.5.7.4 Capture Compare PWM (CCP) Pins
        5. 6.5.7.5 Hibernation (HIB) Module
        6. 6.5.7.6 Watchdog Timers
        7. 6.5.7.7 Programmable GPIOs
      8. 6.5.8  Advanced Motion Control
        1. 6.5.8.1 Pulse Width Modulation (PWM)
        2. 6.5.8.2 Quadrature Encoder With Index (QEI) Module
      9. 6.5.9  Analog
        1. 6.5.9.1 ADC
        2. 6.5.9.2 Analog Comparators
      10. 6.5.10 JTAG and Arm Serial Wire Debug
      11. 6.5.11 Peripheral Memory Map
    6. 6.6 Identification
    7. 6.7 Boot Modes
  7. 7Applications, Implementation, and Layout
    1. 7.1 System Design Guidelines
  8. 8デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 使い始めと次の手順
    2. 8.2 デバイスの項目表記
    3. 8.3 ツールとソフトウェア
    4. 8.4 ドキュメントのサポート
    5. 8.5 Community Resources
    6. 8.6 商標
    7. 8.7 静電気放電に関する注意事項
    8. 8.8 Export Control Notice
    9. 8.9 Glossary
  9. 9メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.2 デバイスの項目表記

製品開発サイクルの段階を示すために、TIではマイクロプロセッサ(MPU)とサポート・ツールのすべての型番に接頭辞が割り当てられています。各デバイスには、XMS、PMS、MSPの3つのうちいずれかの接頭辞があります。これらの接頭辞は、製品開発の進展段階を表します。段階には、エンジニアリング・プロトタイプから、完全認定済みの量産用のデバイスやツールまでがあります。

デバイス開発の段階は次のとおりです。

    XMS実験的デバイス。最終デバイスの電気的特性を必ずしも表さず、量産アセンブリ・フローを使用しない可能性があります。
    PMS プロトタイプ・デバイス。最終的なシリコン・ダイとは限らず、最終的な電気的特性を満たさない可能性があります。
    MSP認定済みのシリコン・ダイの量産バージョン。

実験的なデバイスおよびツールは、次の免責事項付きで出荷されます。

「開発中の製品は、社内での評価用です。」

量産デバイスおよび開発サポート・ツールの特性は完全に明確化されており、デバイスの品質と信頼性が十分に示されています。TIの標準保証が適用されます。

プロトタイプ・デバイスは、標準の量産デバイスよりも故障率が高いことが予想されます。これらのデバイスは、予測される最終使用時の故障率が未定義であるため、TIはそれらのデバイスを量産システムで使用しないよう推奨しています。認定された量産デバイスのみを使用する必要があります。

TIデバイスの項目表記には、デバイス・ファミリ名の接尾辞も含まれます。この接尾辞は、パッケージのタイプ(例: ZAD)と温度範囲(たとえば、空白はデフォルトの商業用温度範囲を示します)を表しています。デバイスの完全なデバイス名を読むための凡例を、Figure 8-1に示します。

デバイスの注文可能な型番については、このデータシートのパッケージ・オプションに関する付録またはti.comを参照するか、TIの販売代理店にお問い合わせください。

ダイにあるデバイスの項目表記マーキングの詳細な説明については、デバイス固有のシリコン正誤表を参照してください。

MSP432E401Y device-nomenclature-msp432e.gifFigure 8-1 デバイスの項目表記