JAJSE79C June   2017  – October 2018 OPA1692

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      3線式エレクトレット・マイク用のプリアンプ
      2.      THD+Nと周波数との関係(3VRMS、2kΩの負荷)
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions: OPA1692
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information: OPA1692
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Distortion Reduction
      2. 7.3.2 Phase Reversal Protection
      3. 7.3.3 Electrical Overstress
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Operating Voltage
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
      1. 8.1.1 Capacitive Loads
      2. 8.1.2 Noise Performance
      3. 8.1.3 Basic Noise Calculations
      4. 8.1.4 EMI Rejection
      5. 8.1.5 EMIRR +IN Test Configuration
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 Application Curves
    3. 8.3 Other Application Examples
      1. 8.3.1 Two-Wire Electret Microphone Preamplifier
      2. 8.3.2 Battery-Powered Preamplifier for Professional Microphones
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
    3. 10.3 Power Dissipation
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 デバイス・サポート
      1. 11.1.1 開発サポート
        1. 11.1.1.1 TINA-TI™ (無料のダウンロード・ソフトウェア)
        2. 11.1.1.2 DIPアダプタ評価モジュール
        3. 11.1.1.3 ユニバーサル・オペアンプ評価モジュール
        4. 11.1.1.4 スマートアンプ・スピーカーの特性付け基板評価モジュール
        5. 11.1.1.5 TI Precision Designs
        6. 11.1.1.6 WEBENCH Filter Designer
    2. 11.2 ドキュメントのサポート
      1. 11.2.1 関連資料
    3. 11.3 関連リンク
    4. 11.4 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    5. 11.5 コミュニティ・リソース
    6. 11.6 商標
    7. 11.7 静電気放電に関する注意事項
    8. 11.8 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.1.5 EMIRR +IN Test Configuration

Figure 59 shows the circuit configuration for testing the EMIRR IN+. An RF source connects to the op amp noninverting input pin using a transmission line. The op amp is configured in a unity-gain buffer topology with the output connected to a low-pass filter (LPF) and a digital multimeter (DMM). A large impedance mismatch at the op amp input causes a voltage reflection; however, this effect is characterized and accounted for when determining the EMIRR IN+. A multimeter samples and measures the resulting DC offset voltage. The LPF isolates the multimeter from residual RF signals that may interfere with multimeter accuracy.

OPA1692 EMIRR_Test_CKT_SBOS079.gifFigure 59. EMIRR +IN Test Configuration