JAJSMR6C March   1999  – February 2023 OPA2277 , OPA277 , OPA4277

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 ピン構成および機能
  6. 6 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報：OPA277
    5. 6.5 熱に関する情報：OPA2277
    6. 6.6 熱に関する情報：OPA4277
    7. 6.7 電気的特性
    8. 6.8 代表的特性
  7. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 動作電圧
      2. 7.3.2 オフセット電圧調整
      3. 7.3.3 入力保護
      4. 7.3.4 入力バイアス電流のキャンセル
      5. 7.3.5 EMI 除去比 (EMIRR)
        1. 7.3.5.1 EMIRR IN+ のテスト構成
    4. 7.4 デバイスの機能モード
  8. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 2 次ローパス・フィルタ
        1. 8.2.1.1 設計要件
        2. 8.2.1.2 詳細な設計手順
        3. 8.2.1.3 アプリケーション曲線
      2. 8.2.2 ロード・セル・アンプ
      3. 8.2.3 ダイオードの冷接点補償を使用した熱電対の低オフセット、低ドリフト・ループ測定
    3. 8.3 電源に関する推奨事項
    4. 8.4 レイアウト
      1. 8.4.1 レイアウトのガイドライン
        1. 8.4.1.1 DRM パッケージ (8 ピン VSON)
      2. 8.4.2 レイアウト例
  9. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 デバイスのサポート
      1. 9.1.1 開発サポート
        1. 9.1.1.1 PSpice® for TI
        2. 9.1.1.2 TINA-TI™シミュレーション・ソフトウェア (無償ダウンロード)
        3. 9.1.1.3 DIP アダプタ評価基板
        4. 9.1.1.4 DIYAMP-EVM
        5. 9.1.1.5 TI のリファレンス・デザイン
        6. 9.1.1.6 フィルタ設計ツール
    2. 9.2 ドキュメントのサポート
      1. 9.2.1 関連資料
    3. 9.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 9.4 サポート・リソース
    5. 9.5 商標
    6. 9.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 9.7 用語集
  10. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • D|8
  • P|8
  • DRM|8
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.3.5.1 EMIRR IN+ のテスト構成

図 7-5に、EMIRR IN+ をテストするための回路構成を示します。伝送ラインを使用して、RF ソースをオペアンプの非反転入力端子に接続します。オペアンプはユニティ・ゲイン・バッファ・トポロジで構成され、出力はローパス・フィルタ (LPF) とデジタル・マルチメータ (DMM) に接続されています。オペアンプの入力でインピーダンスの大きなミスマッチが発生すると、電圧が反射しますが、この影響は EMIRR IN+ を決定するときに特性化され、考慮されます。結果として得られた DC オフセット電圧は、マルチメータによってサンプリングおよび測定されます。LPF はマルチメータの精度に干渉する可能性のある残留 RF 信号からマルチメータを絶縁します。詳細については、『オペアンプの EMI 除去率』アプリケーション・ノートを参照してください。

GUID-96511601-EFFF-4355-983B-42E046477340-low.gif図 7-5 EMIRR IN+ テスト構成の回路図