JAJSKJ3J june   2020  – june 2023 OPA2863 , OPA4863 , OPA863

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Revision History
  6. Device Comparison Table
  7. Pin Configuration and Functions
  8. Specifications
    1. 7.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2  ESD Ratings
    3. 7.3  Recommended Operating Conditions
    4. 7.4  Thermal Information: OPA863
    5. 7.5  Thermal Information: OPA2863
    6. 7.6  Thermal Information: OPA4863
    7. 7.7  Electrical Characteristics: VS = 10 V
    8. 7.8  Electrical Characteristics: VS = 3 V
    9. 7.9  Typical Characteristics: VS = 10 V
    10. 7.10 Typical Characteristics: VS = 3 V
    11. 7.11 Typical Characteristics: VS = 3 V to 10 V
  9. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Input Stage
      2. 8.3.2 Output Stage
        1. 8.3.2.1 Overload Power Limit
      3. 8.3.3 ESD Protection
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Power-Down Mode
  10. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Applications
      1. 9.2.1 Low-Side Current Sensing
        1. 9.2.1.1 Design Requirements
        2. 9.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.1.3 Application Curves
      2. 9.2.2 Front-End Gain and Filtering
      3. 9.2.3 Low-Power SAR ADC Driver and Reference Buffer
      4. 9.2.4 Variable Reference Generator Using MDAC
      5. 9.2.5 Clamp-On Ultrasonic Flow Meter
    3. 9.3 Power Supply Recommendations
    4. 9.4 Layout
      1. 9.4.1 Layout Guidelines
        1. 9.4.1.1 Thermal Considerations
      2. 9.4.2 Layout Example
  11. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Documentation Support
      1. 10.1.1 Related Documentation
    2. 10.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 10.3 サポート・リソース
    4. 10.4 Trademarks
    5. 10.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 10.6 用語集
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。