JAJSPR6B October   2003  – January 2023 SN65LBC176-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1特長
  2. 2概要
  3. 3改訂履歴
  4. 4Pin Configuration and Functions
  5. 5Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 Recommended Operating Conditions
    3. 5.3 Thermal Resistance Characteristics
    4. 5.4 Electrical Characteristics - Driver
    5. 5.5 Switching Characteristics - Driver
      1. 5.5.1 Symbol Equivalents
    6. 5.6 Electrical Characteristics - Reciever
    7. 5.7 Switching Characteristics - Reciever
      1.      Parameter Measurement Information
  6. 6Detailed Description
    1. 6.1 Device Functional Modes
  7. 7Device and Documentation Support
    1. 7.1 Documentation Support
      1. 7.1.1 Related Documentation
    2. 7.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 7.3 サポート・リソース
    4. 7.4 Trademarks
    5. 7.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 7.6 用語集
  8. 8Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • D|8
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。