JAJSDK5A July   2017  – November 2018 THVD1500

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      概略回路図
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Power Dissipation
    6. 6.6 Electrical Characteristics
    7. 6.7 Switching Characteristics
    8. 6.8 Typical Characteristics
  7. 7 Parameter Measurement Information
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagrams
    3. 8.3 Feature Description
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
        1. 9.2.1.1 Data Rate and Bus Length
        2. 9.2.1.2 Stub Length
        3. 9.2.1.3 Bus Loading
        4. 9.2.1.4 Receiver Failsafe
        5. 9.2.1.5 Transient Protection
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curves
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 デバイス・サポート
    2. 12.2 デベロッパー・ネットワークの製品に関する免責事項
    3. 12.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 12.4 コミュニティ・リソース
    5. 12.5 商標
    6. 12.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 12.7 Glossary
  13. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • D|8
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.4 Thermal Information

THERMAL METRIC(1) THVD1500 UNIT
D (SOIC)
8 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 130.1 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 72.8 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 73.6 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 25.0 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 72.9 °C/W
RθJC(bot) Junction-to-case (bottom) thermal resistance NA °C/W
TJ(TSD) Thermal shut-down temperature 170 °C
(1) For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.