JAJSEJ6A January   2018  – April 2018 TLV6703

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      ブロック概略図
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Device Comparison Table
  6. 6 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  7. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Timing Requirements
    7. 7.7 Switching Characteristics
    8. 7.8 Typical Characteristics
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Input Pin (SENSE)
      2. 8.3.2 Output Pin (OUT)
      3. 8.3.3 Immunity to Input-Pin Voltage Transients
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Operation (VDD > UVLO)
      2. 8.4.2 Undervoltage Lockout (V(POR) < VDD < UVLO)
      3. 8.4.3 Power-On Reset (VDD < V(POR))
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 VPULLUP to a Voltage Other Than VDD
      2. 9.1.2 Monitoring VDD
      3. 9.1.3 Monitoring a Voltage Other Than VDD
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Resistor Divider Selection
        2. 9.2.2.2 Pullup Resistor Selection
        3. 9.2.2.3 Input Supply Capacitor
        4. 9.2.2.4 Sense Capacitor
      3. 9.2.3 Application Curves
    3. 9.3 Dos and Don'ts
  10. 10Power-Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 デバイス・サポート
      1. 12.1.1 開発サポート
    2. 12.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 12.3 コミュニティ・リソース
    4. 12.4 商標
    5. 12.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 12.6 Glossary
  13. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.5 静電気放電に関する注意事項

esds-image

すべての集積回路は、適切なESD保護方法を用いて、取扱いと保存を行うようにして下さい。

静電気放電はわずかな性能の低下から完全なデバイスの故障に至るまで、様々な損傷を与えます。高精度の集積回路は、損傷に対して敏感であり、極めてわずかなパラメータの変化により、デバイスに規定された仕様に適合しなくなる場合があります。