| 値 | 単位 |
---|
TLV9061S-Q1 のパッケージ |
V(ESD) |
静電気放電 |
人体モデル (HBM)、AEC Q100-002 準拠 (1) |
±2000 |
V |
デバイス帯電モデル (CDM)、AEC Q100-011 準拠 |
±1500 |
他のすべてのパッケージ |
V(ESD) | 静電気放電 | 人体モデル (HBM)、AEC Q100-002 準拠 (1) | ±4000 | V |
デバイス帯電モデル (CDM)、AEC Q100-011 準拠 | ±1500 |
(1) AEC Q100–002 は、HBM ストレス試験を ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 仕様に従って実施しなければならないと規定しています。