JAJSQ46A April   2023  – August 2024 TLV9161-Q1 , TLV9162-Q1 , TLV9164-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information for Single Channel
    5. 5.5 Thermal Information for Dual Channel
    6. 5.6 Thermal Information for Quad Channel
    7. 5.7 Electrical Characteristics
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Input Protection Circuitry
      2. 6.3.2 EMI Rejection
      3. 6.3.3 Thermal Protection
      4. 6.3.4 Capacitive Load and Stability
      5. 6.3.5 Common-Mode Voltage Range
      6. 6.3.6 Phase Reversal Protection
      7. 6.3.7 Electrical Overstress
      8. 6.3.8 Overload Recovery
      9. 6.3.9 Typical Specifications and Distributions
    4. 6.4 Device Functional Modes
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Applications
      1. 7.2.1 Low-Side Current Measurement
        1. 7.2.1.1 Design Requirements
        2. 7.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 7.2.1.3 Application Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Device Support
      1. 8.1.1 Development Support
        1. 8.1.1.1 TINA-TI (Free Software Download)
    2. 8.2 Documentation Support
      1. 8.2.1 Related Documentation
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 Trademarks
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.6 静電気放電に関する注意事項

TLV9161-Q1 TLV9162-Q1 TLV9164-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。