JAJSJG2A January   2021  – July 2021 TMCS1108

PRODUCTION DATA  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
  4. 改訂履歴
  5. デバイスの比較
  6. ピン構成および機能
  7. 仕様
    1. 7.1 絶対最大定格
    2. 7.2 ESD 定格
    3. 7.3 推奨動作条件
    4. 7.4 熱に関する情報
    5. 7.5 電力定格
    6. 7.6 電気的特性
    7. 7.7 代表的特性
      1. 7.7.1 絶縁特性曲線
  8. パラメータ測定情報
    1. 8.1 精度パラメータ
      1. 8.1.1 感度誤差
      2. 8.1.2 オフセット誤差とオフセット誤差ドリフト
      3. 8.1.3 非直線性誤差
      4. 8.1.4 電源除去比
      5. 8.1.5 同相除去比
      6. 8.1.6 外部磁場エラー
    2. 8.2 過渡応答パラメータ
      1. 8.2.1 スルーレート
      2. 8.2.2 伝搬遅延と応答時間
      3. 8.2.3 過電流パラメータ
      4. 8.2.4 CMTI、同相電圧過渡耐性
    3. 8.3 安全動作領域
      1. 8.3.1 連続 DC または正弦波 AC 電流
      2. 8.3.2 反復的なパルス電流 SOA
      3. 8.3.3 単一イベント電流機能
  9. 詳細説明
    1. 9.1 概要
    2. 9.2 機能ブロック図
    3. 9.3 機能説明
      1. 9.3.1 電流入力
      2. 9.3.2 高精度信号チェーン
        1. 9.3.2.1 寿命と環境安定性
        2. 9.3.2.2 周波数応答
        3. 9.3.2.3 過渡応答
      3. 9.3.3 内部リファレンス電圧
      4. 9.3.4 電流検出の測定可能範囲
    4. 9.4 デバイスの機能モード
      1. 9.4.1 パワーダウンの動作
  10. 10アプリケーションと実装
    1. 10.1 アプリケーション情報
      1. 10.1.1 総誤差計算例
        1. 10.1.1.1 室温誤差の計算
        2. 10.1.1.2 全温度範囲の誤差の計算
    2. 10.2 代表的なアプリケーション
      1. 10.2.1 設計要件
      2. 10.2.2 詳細な設計手順
      3. 10.2.3 アプリケーション曲線
  11. 11電源に関する推奨事項
  12. 12レイアウト
    1. 12.1 レイアウトのガイドライン
    2. 12.2 レイアウト例
  13. 13デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 13.1 デバイスのサポート
      1. 13.1.1 開発サポート
    2. 13.2 ドキュメントのサポート
      1. 13.2.1 関連資料
    3. 13.3 Receiving Notification of Documentation Updates
    4. 13.4 サポート・リソース
    5. 13.5 商標
    6. 13.6 Electrostatic Discharge Caution
    7. 13.7 Glossary
  14. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

外部磁場エラー

TMCS1108 には浮遊磁界除去機能がないため、隣接する大電流の配線や付近の磁石による外部の磁界が出力測定に影響を及ぼす可能性があります。デバイスの合計感度 (S) は、入力電流から磁気結合係数 (G) として定量化される磁界への初期変換と、ホール素子の感度、および最終的な感度を実現するため工場でキャリブレーションされるアナログ回路で構成されます。出力電圧は、Equation11 で定義されているように、デバイスの感度に応じて入力電流に比例します。

Equation11. GUID-444CB38A-9B00-4E5D-A111-CB20AF55BED7-low.gif

ここで

  • S は TMCS1108 の感度で、mV/A 単位で表記されます。
  • G は磁気結合係数で、mT/A 単位で表記されます。
  • SHall はホール・プレートの感度で、mV/mT 単位で表記されます。
  • AV は較正済みアナログ回路のゲインで、V/V 単位で表記されます。

外部磁界 BEXT は、リードフレーム電流によって生成されるフィールドに加えて、ホール・センサと信号チェーンによって測定され、合計出力電圧の関数に追加の入力項として加算されます。

Equation12. GUID-374A1D22-EDDF-4ABA-B797-80A5F17CA6E4-low.gif

Equation12 から、外部の磁界の影響は、Equation13 に示されている追加の等価入力電流信号 IBEXT であることが読み取れます。この実質的な追加入力電流は、ホールまたはアナログ回路の感度に依存しないため、すべてのゲイン派生値は、外部の磁界による入力換算電流誤差と等価です。

Equation13. GUID-AA59B9B7-A9A8-438A-B8A2-DBECEE43B74D-low.gif

この追加電流誤差により、Equation14 で定義されるパーセンテージ誤差が発生します。

Equation14. GUID-1EEBC7AA-A5E9-42A7-B96D-DEFFAE894101-low.gif