JAJS466L March   2009  – July 2024 TMP112 , TMP112D

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. デバイスの比較
  6. ピン構成および機能
  7. 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報
    5. 6.5 電気的特性
    6. 6.6 タイミング要件
    7. 6.7 タイミング図
    8. 6.8 代表的特性 (TMP112A/B/N)
    9. 6.9 代表的特性 (TMP112Dx)
  8. 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 デジタル温度出力
      2. 7.3.2 シリアル インターフェイス
        1. 7.3.2.1 バスの概要
        2. 7.3.2.2 シリアル バス アドレス
        3. 7.3.2.3 読み取りと書き込みの動作
        4. 7.3.2.4 ターゲット モードの動作
          1. 7.3.2.4.1 ターゲット レシーバ モード
          2. 7.3.2.4.2 ターゲット トランスミッタ モード
        5. 7.3.2.5 SMBus のアラート機能
        6. 7.3.2.6 ゼネラル コール
        7. 7.3.2.7 ハイスピード (Hs) モード
        8. 7.3.2.8 タイムアウト機能
        9. 7.3.2.9 タイミング図
          1. 7.3.2.9.1 2 線式タイミング図
    4. 7.4 デバイスの機能モード
      1. 7.4.1 連続変換モード
      2. 7.4.2 拡張モード (EM)
      3. 7.4.3 ワンショット / 変換準備モード (OS)
      4. 7.4.4 サーモスタット モード (TM)
        1. 7.4.4.1 コンパレータ モード (TM = 0)
        2. 7.4.4.2 割り込みモード (TM = 1)
    5. 7.5 プログラミング
      1. 7.5.1 ポインタ レジスタ
      2. 7.5.2 温度レジスタ
      3. 7.5.3 構成レジスタ
        1. 7.5.3.1 シャットダウン モード (SD)
        2. 7.5.3.2 サーモスタット モード (TM)
        3. 7.5.3.3 極性 (POL)
        4. 7.5.3.4 フォルト キュー (F1/F0)
        5. 7.5.3.5 コンバータの分解能 (R1 および R0)
        6. 7.5.3.6 ワンショット (OS)
        7. 7.5.3.7 拡張モード (EM)
        8. 7.5.3.8 アラート (AL)
      4. 7.5.4 上限および下限レジスタ
  9. アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
      4. 8.2.4 電源に関する推奨事項
    3. 8.3 レイアウト
      1. 8.3.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.3.2 レイアウト例
  10. デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 文書化のサポート
      1. 9.1.1 関連資料
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

TMP112 TMP112D この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。