JAJSUQ7E June   2024  – October 2025 TMUXS7614D

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1  絶対最大定格
    2. 5.2  ESD 定格
    3. 5.3  熱に関する情報
    4. 5.4  推奨動作条件
    5. 5.5  スイッチを流れるソースまたはドレイン電流
    6. 5.6  電気的特性 (グローバル)
    7. 5.7  電気的特性 (±15V 両電源)
    8. 5.8  スイッチング特性 (±15V 両電源)
    9. 5.9  電気的特性 (±20V 両電源)
    10. 5.10 スイッチング特性 (±20V 両電源)
    11. 5.11 電気的特性 (+37.5V/-12.5V 両電源)
    12. 5.12 スイッチング特性 (+37.5V/-12.5V 両電源)
    13. 5.13 電気的特性 (12V 単電源)
    14. 5.14 スイッチング特性 (12V 単電源)
    15. 5.15 SPI タイミング特性 (2.7V ～ 5.5V)
    16. 5.16 SPI タイミング特性 (1.8V ～ 2.7V)
    17. 5.17 タイミング図
    18. 5.18 代表的特性
  7. 6 パラメータ測定情報
    1. 6.1  オン抵抗
    2. 6.2  オフ リーク電流
    3. 6.3  オン リーク電流
    4. 6.4  tON および tOFF 時間
    5. 6.5  ブレイク ビフォー メイク
    6. 6.6  チャージ インジェクション
    7. 6.7  オフ アイソレーション
    8. 6.8  チャネル間クロストーク
    9. 6.9  帯域幅
    10. 6.10 THD + ノイズ
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 双方向動作
      2. 7.3.2 レール ツー レール動作
      3. 7.3.3 1.8V ロジック互換入力
      4. 7.3.4 フラットなオン抵抗
      5. 7.3.5 パワーアップ シーケンシング フリー
    4. 7.4 SPI 動作
      1. 7.4.1 アドレス モード
      2. 7.4.2 バースト モード
      3. 7.4.3 デイジー チェーン モード
      4. 7.4.4 エラー検出
        1. 7.4.4.1 アドレス R/W エラー フラグ
        2. 7.4.4.2 SCLK カウント エラー フラグ
        3. 7.4.4.3 CRC (巡回冗長性検査) イネーブルおよびエラー フラグ
        4. 7.4.4.4 エラー フラグのクリア
      5. 7.4.5 ソフトウェア リセット
    5. 7.5 デバイスの機能モード
    6. 7.6 レジスタ マップ
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 推奨されるリフロー プロファイル
    4. 8.4 熱に関する注意事項
    5. 8.5 電源に関する推奨事項
    6. 8.6 レイアウト
      1. 8.6.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.6.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1. 9.1.1 関連資料
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 11.1 テープおよびリール情報
    2. 11.2 メカニカル データ

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • ZEM|30
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.2 代表的なアプリケーション

半導体自動試験装置 (ATE) アプリケーションへのパラメトリック測定ユニット (PMU) の実装は、高精度性能の活用例の 1 つです。

自動試験装置 (ATE) システムでは、パラメトリック測定ユニット (PMU) は、電圧と電流に関するデバイス (DUT) パラメータ情報を測定する役割を担います。電圧を測定する際、DUT ピンに電流を印加し、内部センス抵抗の値を変更することで電流範囲を調整できます。DUT によっては、システムでネイティブ サポートされているよりもさらに高いテスト電流を使用する必要がある場合があります。8 チャネル SPST スイッチを、外付けの大電流アンプおよび抵抗と組み合わせて使用することで、柔軟性を得ることができます。PMU の動作電圧は通常、中電圧 (最大 36V) です。TMUXS7614D などの低リーク電流 (代表値 0.013nA) の適切なスイッチは、測定精度に及ぼす影響が最小限であるため、これらのアプリケーションでは適切に動作します。また、RON が小さく、RON_FLATNESS が平坦であるため、電流範囲をより正確に制御できます。図 8-1 に、メモリおよび半導体試験装置のこのような実装の概略図を示します。

TMUXS7614D 外付け抵抗による大電流範囲の選択図 8-1 外付け抵抗による大電流範囲の選択