JAJSLN5B May   2012  – April 2021 TPS54525

PRODUCTION DATA  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
  4. Revision History
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1  PWM Operation
      2. 7.3.2  PWM Frequency and Adaptive On-Time Control
      3. 7.3.3  Soft Start and Pre-Biased Soft Start
      4. 7.3.4  Power Good
      5. 7.3.5  VREG5
      6. 7.3.6  Output Discharge Control
      7. 7.3.7  Current Protection
      8. 7.3.8  Over/Under Voltage Protection
      9. 7.3.9  UVLO Protection
      10. 7.3.10 Thermal Shutdown
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Forced CCM Mode
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Step By Step Design Procedure
        2. 8.2.2.2 Output Voltage Resistors Selection
        3. 8.2.2.3 Output Filter Selection
        4. 8.2.2.4 Input Capacitor Selection
        5. 8.2.2.5 Bootstrap Capacitor Selection
        6. 8.2.2.6 VREG5 Capacitor Selection
      3. 8.2.3 Application Curves
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Guidelines
      1. 10.2.1 Thermal Considerations
  11. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Device Support
      1. 11.1.1 Third-Party Products Disclaimer
    2. 11.2 Receiving Notification of Documentation Updates
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 Trademarks
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 用語集

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。