JAJST03A August   2024  – September 2024 TPS7A20U

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Switching Characteristics
    7. 5.7 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Low Output Noise
      2. 6.3.2 Smart Enable
      3. 6.3.3 Dropout Voltage
      4. 6.3.4 Current Limit
      5. 6.3.5 Undervoltage Lockout (UVLO)
      6. 6.3.6 Thermal Shutdown
      7. 6.3.7 Active Discharge
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Normal Operation
      2. 6.4.2 Dropout Operation
      3. 6.4.3 Disabled
  8. Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
      1. 7.1.1 Recommended Capacitor Types
      2. 7.1.2 Input and Output Capacitor Requirements
      3. 7.1.3 Load Transient Response
      4. 7.1.4 Undervoltage Lockout (UVLO) Operation
      5. 7.1.5 Power Dissipation (PD)
        1. 7.1.5.1 Estimating Junction Temperature
        2. 7.1.5.2 Recommended Area for Continuous Operation
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 7.2.3 Application Curve
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. Device and Documentation Support
    1. 8.1 Device Support
      1. 8.1.1 Device Nomenclature
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
  • YCK|4
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

TPS7A20U この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。