JAJSNZ0D May 2023 – August 2024 UCC21550-Q1
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
パラメータ | テスト条件 | 仕様 | 単位 | |
---|---|---|---|---|
一般 | ||||
CLR | 外部空間距離(1) | 空気を介した最短のピン間距離 | >8 | mm |
CPG | 外部沿面距離(1) | パッケージ表面に沿った最短のピン間距離 | >8 | mm |
DTI | 絶縁物を介した距離 | 最小内部ギャップ (内部空間距離) | >17 | μm |
CTI | 比較トラッキング インデックス | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)、IEC 60112 | > 600 | V |
材料グループ | IEC 60664-1 に準拠 | I | ||
過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-III | ||
定格商用電源 VRMS が 1000V 以下 | I-II | |||
DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17) (2) | ||||
VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 2121 | VPK |
VIOWM | 最大絶縁動作電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB) テスト、図 6-1 を参照 | 1500 | VRMS |
DC 電圧 | 2121 | VDC | ||
VIMP | 最大入力パルス電圧 | IEC 62368-1 に準拠し空気中でテスト、1.2/50µs の波形 | 7692 | VPK |
VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時) |
7071 | VPK |
VIOSM | 最大サージ絶縁電圧(3) | VIOSM ≧ 1.3 × VIMP、油中でテスト (認定)、1.2/50μs 波形、IEC 62368-1 に準拠 | 10000 | VPK |
qpd | 見掛けの電荷(4) | 方法 a:I/O 安全テスト サブグループ 2/3 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10s | ≦ 5 | pC |
方法 a:環境テスト サブグループ 1 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、Vpd(m) = 1.6 × VIORM、tm = 10s | ≦ 5 | |||
方法 b1:ルーチン テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ テスト) の場合、Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s | ≦ 5 | |||
CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(5) | VIO = 0.4 × sin (2πft)、f = 1MHz | ≒1.2 | pF |
RIO | 絶縁抵抗、入力から出力へ(5) | VIO = 500V、TA = 25℃ | >1012 | Ω |
VIO = 500V (100℃ ≦ TA ≦ 125℃時) | >1011 | |||
VIO = 500V (TS = 150℃時) | >109 | |||
汚染度 | 2 | |||
耐候性カテゴリ | 40/125/21 | |||
UL 1577 | ||||
VISO | UCC2155x の絶縁耐圧 | VTEST = VISO = 5000 VRMS、t = 60s (認定)、VTEST = 1.2 × VISO = 6000 VRMS、t = 1s (100% 出荷時) | 5000 | VRMS |