この-8V、4.7mΩ、1.5mm×1.5mmデバイスは、可能な限り小さな外形で、最低のオン抵抗とゲート電荷を実現し、非常に低いプロファイルで優れた熱特性を持つよう設計されています。低いオン抵抗と、小さな占有面積および低いプロファイルから、このデバイスはバッテリ駆動で容積の制限されるアプリケーションに理想的です。
TA = 25°C | 標準値 | 単位 | ||
---|---|---|---|---|
VDS | ドレイン-ソース間電圧 | -8 | V | |
Qg | ゲートの合計電荷(-4.5V) | 11.2 | nC | |
Qgd | ゲート電荷、ゲート-ドレイン間 | 1.8 | nC | |
RDS(on) | ドレイン-ソース間オン抵抗 | VGS = -2.5V | 6.8 | mΩ |
VGS = -4.5V | 4.7 | |||
VGS(th) | スレッショルド電圧 | -0.7 | V |
デバイス | 数量 | メディア | パッケージ | 出荷 |
---|---|---|---|---|
CSD22206W | 3000 | 7インチ・リール | 1.50mm×1.50mm ウェハーBGAパッケージ |
テープ・アンド・リール |
CSD22206WT | 250 |
TA = 25°C | 値 | 単位 | |
---|---|---|---|
VDS | ドレイン-ソース間電圧 | -8 | V |
VGS | ゲート-ソース間電圧 | -6 | V |
ID | 連続ドレイン電流(1) | -5 | A |
パルス・ドレイン電流(2) | -108 | A | |
PD | 消費電力 | 1.7 | W |
TJ、 Tstg |
動作時の接合部、 保管温度 |
–55~150 | °C |
RDS(on)とVGSとの関係![]() |
ゲート電荷![]() |
日付 | 改訂内容 | 注 |
---|---|---|
2017年5月 | * | 初版 |
PARAMETER | TEST CONDITIONS | MIN | TYP | MAX | UNIT | ||
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STATIC CHARACTERISTICS | |||||||
BVDSS | Drain-to-source voltage | VGS = 0 V, IDS = –250 μA | –8 | V | |||
BVGSS | Gate-to-source voltage | VDS = 0 V, IG = –250 μA | –6 | V | |||
IDSS | Drain-to-source leakage current | VGS = 0 V, VDS = –6.4 V | –1 | μA | |||
IGSS | Gate-to-source leakage current | VDS = 0 V, VGS = –6 V | –100 | nA | |||
VGS(th) | Gate-to-source threshold voltage | VDS = VGS, IDS = –250 μA | –0.4 | –0.7 | –1.05 | V | |
RDS(on) | Drain-to-source on resistance | VGS = –2.5 V, IDS = –2 A | 6.8 | 9.1 | mΩ | ||
VGS = –4.5 V, IDS = –2 A | 4.7 | 5.7 | |||||
gfs | Transconductance | VDS = –0.8 V, IDS = –2 A | 20 | S | |||
DYNAMIC CHARACTERISTICS | |||||||
CISS | Input capacitance | VGS = 0 V, VDS = –4 V, ƒ = 1 MHz |
1750 | 2275 | pF | ||
COSS | Output capacitance | 960 | 1250 | pF | |||
CRSS | Reverse transfer capacitance | 340 | 440 | pF | |||
RG | Series gate resistance | 30 | Ω | ||||
Qg | Gate charge total (–4.5 V) | VDS = –4 V, ID = –2 A |
11.2 | 14.6 | nC | ||
Qgd | Gate charge gate-to-drain | 1.8 | nC | ||||
Qgs | Gate charge gate-to-source | 2.1 | nC | ||||
Qg(th) | Gate charge at Vth | 1.3 | nC | ||||
QOSS | Output charge | VDS = –4 V, VGS = 0 V | 7.2 | nC | |||
td(on) | Turnon delay time | VDS = –4 V, VGS = –4.5 V, IDS = –2 A, RG = 0 Ω |
37 | ns | |||
tr | Rise time | 17 | ns | ||||
td(off) | Turnoff delay time | 118 | ns | ||||
tf | Fall time | 45 | ns | ||||
DIODE CHARACTERISTICS | |||||||
VSD | Diode forward voltage | IDS = –2 A, VGS = 0 V | –0.69 | –1.0 | |||
Qrr | Reverse recovery charge | VDS= –4 V, IF = –1 A, di/dt = 200 A/μs |
24 | nC | |||
trr | Reverse recovery time | 59 | ns |
THERMAL METRIC | TYPICAL VALUES | UNIT | |||
---|---|---|---|---|---|
RθJA | Junction-to-ambient thermal resistance(1) | 75 | °C/W | ||
Junction-to-ambient thermal resistance(2) | 230 |
![]() |
Typ RθJA = 75°C/W when mounted on 1 in2 of 2-oz Cu. |
![]() |
Typ RθJA = 230°C/W when mounted on minimum pad area of 2-oz Cu. |
ID = –2 A | VDS = –4 V | ||
ID = –250 µA | ||
ID = –2 A | ||
Single pulse, max RθJA = 75°C/W | ||
VDS = –4 V | ||
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E2E is a trademark of Texas Instruments.
これらのデバイスは、限定的なESD(静電破壊)保護機能を内 蔵しています。保存時または取り扱い時は、MOSゲートに対す る静電破壊を防止するために、リード線同士をショートさせて おくか、デバイスを導電フォームに入れる必要があります。
SLYZ022 — TI Glossary.
This glossary lists and explains terms, acronyms, and definitions.