JAJSD50H April 2017 – November 2023 INA181 , INA2181 , INA4181
PRODUCTION DATA
INAx181 の出力が高インピーダンスの入力に接続されている場合、OUT から GND までの単純な RC ネットワークを使用して、デバイスの出力でフィルタ処理するのが最適です。出力でのフィルタ処理により、同相電圧、差動入力信号、INAx181 電源電圧の高周波外乱を減衰させることができます。出力でのフィルタ処理が不可能な場合、または差動入力信号のみがフィルタ処理を必要とする場合、本デバイスの入力ピンにフィルタを接続します。図 8-2 に、本デバイスの入力ピンでフィルタを使用する方法の例を示します。
外付け直列抵抗の追加は測定誤差の増大につながるため、これらの直列抵抗の値は 10Ω 以下に維持し、精度への影響を低減する必要があります。図 8-2 に示す内部バイアス ネットワークは、入力ピンの間に差動電圧が印加されたときに、入力バイアス電流のミスマッチを引き起こします。外付け直列フィルタ抵抗を回路に追加した場合、バイアス電流のミスマッチは結果的にフィルタ抵抗両端の電圧降下のミスマッチをもたらします。このミスマッチは、シャント抵抗の両端に発生する電圧から差し引かれる差動誤差電圧を生じさせます。この誤差により、シャント抵抗の両端に発生する電圧と本デバイスの入力ピンの電圧に差が生じます。直列抵抗を追加しなければ、入力バイアス電流のミスマッチがデバイスの動作に及ぼす影響はほとんどありません。これらの外付けフィルタ抵抗により追加される測定誤差の大きさは、式 6 を使用して計算できます。ゲイン誤差係数の計算には、式 5 が使用されます。
シャント抵抗に発生する電圧に対する本デバイスの入力差動電圧のばらつきの大きさは、外付け直列抵抗 (RF) の値と内部入力抵抗 RINT の値の両方に基づきます (図 8-2 を参照)。本デバイスの入力ピンに到達するシャント電圧の低下は、シャント抵抗両端の電圧と出力電圧を比較する際のゲイン誤差として現れます。外付け直列抵抗を追加することによって生じるゲイン誤差の大きさを求めるため、係数を計算できます。シャント電圧と本デバイスの入力ピンでの電圧の偏差の推定値は、式 5 を使用して計算します。
ここで
式 5 からの調整係数にはデバイスの内部入力抵抗が含まれているため、この係数はゲインのバージョンによって異なります。バージョンごとのゲインを表 8-1 に示します。表 8-2 に、各デバイスのゲイン誤差係数を示します。
製品名 | ゲイン | RINT (kΩ) |
---|---|---|
INAx181A1 | 20 | 25 |
INAx181A2 | 50 | 10 |
INAx181A3 | 100 | 5 |
INAx181A4 | 200 | 2.5 |
製品名 | 簡略化されたゲイン誤差係数 |
---|---|
INAx181A1 | |
INAx181A2 | |
INAx181A3 | |
INAx181A4 |
外付け直列抵抗を追加した場合のゲイン誤差は、式 6 で計算できます。
たとえば、INA181A2 と、表 8-2 の対応するゲイン誤差の式を使用すると、10Ω の直列抵抗に対して 0.991 のゲイン誤差係数が得られます。対応するゲイン誤差は式 6 を使用して計算され、10Ω の外付け直列抵抗のみの理由で約 0.89% の追加ゲイン誤差が生じます。