JAJSDA4H February 2013 – June 2017 LM5122
PRODUCTION DATA.
異なるデバイスの相対効率を比較する方法の1つは、損失の詳細を検討して電力NチャネルMOSFETデバイスを選択することです。ローサイドNチャネルMOSFETデバイスでの損失は、伝導損失とスイッチング損失に分けられます。
ローサイドの伝導損失は、次のように概算されます。
ここで、Dはデューティ・サイクルで、係数1.3はNチャネルMOSFETデバイスの発熱によるオン抵抗の増大を表します。または、NチャネルMOSFETのデータシートにあるRDS (ON)と温度の関係を示す曲線から、NチャネルMOSFETデバイスの高温でのオン抵抗を推定できれば、係数1.3を除去できます。
スイッチング損失は、ローサイドNチャネルMOSFETデバイスがオン/オフする短い遷移期間に発生します。この遷移期間において、NチャネルMOSFETデバイスのチャネルには、電流と電圧の両方が存在します。ローサイドのスイッチング損失は、次のように概算されます。
tRおよびtFは、ローサイドNチャネルMOSFETデバイスの立ち上がりおよび立ち下がり時間です。立ち上がりおよび立ち下がり時間は通常、NチャネルMOSFETのデータシートに記載されているか、オシロスコープにより実験的に観測できます。
SWノードでの負の電圧スパイクを最小化するため、ローサイドNチャネルMOSFETスイッチと並列にショットキー・ダイオードを追加し、ソースとドレインに短い配線で接続します。