JAJSEZ6K August   2014  – February 2024 TMS320F28374S , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376S , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378S , TMS320F28379S

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
    1. 3.1 機能ブロック図
  5. 4 デバイスの比較
    1. 4.1 関連製品
  6. 5 ピン構成および機能
    1. 5.1 ピン配置図
    2. 5.2 信号の説明
      1. 5.2.1 信号の説明
    3. 5.3 内部プルアップおよびプルダウン付きのピン
    4. 5.4 ピン多重化
      1. 5.4.1 GPIO 多重化ピン
      2. 5.4.2 入力クロスバー
      3. 5.4.3 出力クロスバーおよび ePWM クロスバー
      4. 5.4.4 USB ピン多重化
      5. 5.4.5 高速 SPI ピン多重化
    5. 5.5 未使用ピンの接続
  7. 6 仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  ESD 定格 - 民生用
    3. 6.3  ESD 定格 - 車載用
    4. 6.4  推奨動作条件
    5. 6.5  消費電力の概略
      1. 6.5.1 200MHz SYSCLK でのデバイス消費電流
      2. 6.5.2 消費電流のグラフ
      3. 6.5.3 消費電流の低減
    6. 6.6  電気的特性
    7. 6.7  熱抵抗特性
      1. 6.7.1 ZWT パッケージ
      2. 6.7.2 PTP パッケージ
      3. 6.7.3 PZP パッケージ
    8. 6.8  熱設計の検討事項
    9. 6.9  システム
      1. 6.9.1  電源シーケンス
        1. 6.9.1.1 信号ピンの要件
        2. 6.9.1.2 VDDIO、VDDA、VDD3VFL、VDDOSC の要件
        3. 6.9.1.3 VDD 要件
        4. 6.9.1.4 電源ランプ・レート
          1. 6.9.1.4.1 電源ランプ・レート
        5. 6.9.1.5 電源監視
      2. 6.9.2  リセット・タイミング
        1. 6.9.2.1 リセット ソース
        2. 6.9.2.2 リセットの電気的データおよびタイミング
          1. 6.9.2.2.1 リセット (XRS) のタイミング要件
          2. 6.9.2.2.2 リセット (XRS) スイッチング特性
      3. 6.9.3  クロック仕様
        1. 6.9.3.1 クロック・ソース
        2. 6.9.3.2 クロック周波数、要件、および特性
          1. 6.9.3.2.1 入力クロック周波数およびタイミング要件、PLL ロック時間
            1. 6.9.3.2.1.1 入力クロック周波数
            2. 6.9.3.2.1.2 外部クロック・ソース (水晶振動子ではない) 使用時の X1 入力レベルの特性
            3. 6.9.3.2.1.3 XTAL 発振器の特性
            4. 6.9.3.2.1.4 X1 のタイミング要件 –
            5. 6.9.3.2.1.5 AUXCLKIN のタイミング要件
            6. 6.9.3.2.1.6 PLL ロック時間
          2. 6.9.3.2.2 内部クロック周波数
            1. 6.9.3.2.2.1 内部クロック周波数
          3. 6.9.3.2.3 出力クロックの周波数およびスイッチング特性
            1. 6.9.3.2.3.1 出力クロックの周波数
            2. 6.9.3.2.3.2 XCLKOUT のスイッチング特性 (PLL バイパスまたはイネーブル)
        3. 6.9.3.3 入力クロックおよび PLL
        4. 6.9.3.4 XTAL 発振器
          1. 6.9.3.4.1 はじめに
          2. 6.9.3.4.2 概要
            1. 6.9.3.4.2.1 電気発振回路
              1. 6.9.3.4.2.1.1 動作モード
                1. 6.9.3.4.2.1.1.1 水晶動作モード
                2. 6.9.3.4.2.1.1.2 シングルエンド動作モード
              2. 6.9.3.4.2.1.2 XCLKOUT での XTAL 出力
            2. 6.9.3.4.2.2 水晶振動子
          3. 6.9.3.4.3 機能動作
            1. 6.9.3.4.3.1 ESR – 等価直列抵抗
            2. 6.9.3.4.3.2 Rneg – 負性抵抗
            3. 6.9.3.4.3.3 起動時間
            4. 6.9.3.4.3.4 DL – 励振レベル
          4. 6.9.3.4.4 水晶振動子の選択方法
          5. 6.9.3.4.5 テスト
          6. 6.9.3.4.6 一般的な問題とデバッグのヒント
          7. 6.9.3.4.7 水晶発振回路の仕様
            1. 6.9.3.4.7.1 水晶発振器の電気的特性
            2. 6.9.3.4.7.2 水晶振動子の等価直列抵抗 (ESR) 要件
        5. 6.9.3.5 内部発振器
          1. 6.9.3.5.1 内部発振器の電気的特性
      4. 6.9.4  フラッシュ・パラメータ
        1. 6.9.4.1 フラッシュ パラメータ
      5. 6.9.5  RAM の仕様
      6. 6.9.6  ROM の仕様
      7. 6.9.7  エミュレーション / JTAG
        1. 6.9.7.1 JTAG の電気的データおよびタイミング
          1. 6.9.7.1.1 JTAG のタイミング要件
          2. 6.9.7.1.2 JTAG のスイッチング特性
      8. 6.9.8  GPIO の電気的データおよびタイミング
        1. 6.9.8.1 GPIO - 出力タイミング
          1. 6.9.8.1.1 汎用出力のスイッチング特性
        2. 6.9.8.2 GPIO - 入力タイミング
          1. 6.9.8.2.1 汎用入力のタイミング要件
        3. 6.9.8.3 入力信号のサンプリング・ウィンドウ幅
      9. 6.9.9  割り込み
        1. 6.9.9.1 外部割り込み (XINT) の電気的データおよびタイミング
          1. 6.9.9.1.1 外部割り込みのタイミング要件
          2. 6.9.9.1.2 外部割り込みのスイッチング特性
      10. 6.9.10 低消費電力モード
        1. 6.9.10.1 クロック・ゲーティング低消費電力モード
        2. 6.9.10.2 電源をゲーティングする低消費電力モード
        3. 6.9.10.3 低消費電力モードのウェークアップ・タイミング
          1. 6.9.10.3.1 アイドル・モードのタイミング要件
          2. 6.9.10.3.2 アイドル モードのスイッチング特性
          3. 6.9.10.3.3 スタンバイ・モードのタイミング要件
          4. 6.9.10.3.4 スタンバイ モードのスイッチング特性
          5. 6.9.10.3.5 ホールト モードのタイミング要件
          6. 6.9.10.3.6 ホールト モードのスイッチング特性
          7. 6.9.10.3.7 ハイバネーション・モードのタイミング要件
          8. 6.9.10.3.8 ハイバネーション モードのスイッチング特性
      11. 6.9.11 外部メモリ・インターフェイス (EMIF)
        1. 6.9.11.1 非同期メモリのサポート
        2. 6.9.11.2 同期 DRAM のサポート
        3. 6.9.11.3 EMIF の電気的データおよびタイミング
          1. 6.9.11.3.1 非同期 RAM
            1. 6.9.11.3.1.1 EMIF 非同期メモリのタイミング要件
            2. 6.9.11.3.1.2 EMIF 非同期メモリのスイッチング特性
          2. 6.9.11.3.2 同期 RAM
            1. 6.9.11.3.2.1 EMIF 同期メモリのタイミング要件
            2. 6.9.11.3.2.2 EMIF 同期メモリのスイッチング特性
    10. 6.10 アナログ ペリフェラル
      1. 6.10.1 A/D コンバータ (ADC)
        1. 6.10.1.1 ADC の構成可能性
          1. 6.10.1.1.1 信号モード
        2. 6.10.1.2 ADC の電気的データおよびタイミング
          1. 6.10.1.2.1 ADC の動作条件 (16 ビット差動モード)
          2. 6.10.1.2.2 ADC の特性 (16 ビット差動モード)
          3. 6.10.1.2.3 ADC の動作条件 (12ビット シングルエンド モード)
          4. 6.10.1.2.4 ADCの特性 (12 ビット シングルエンド モード)
          5. 6.10.1.2.5 ADCEXTSOC のタイミング要件
          6. 6.10.1.2.6 ADC 入力モデル
            1. 6.10.1.2.6.1 差動入力モデル パラメータ
            2. 6.10.1.2.6.2 シングルエンド入力モデルのパラメータ
          7. 6.10.1.2.7 ADC のタイミング図
            1. 6.10.1.2.7.1 12 ビット モードでの ADC タイミング (SYSCLK サイクル)
            2. 6.10.1.2.7.2 16 ビット モードでの ADC タイミング
        3. 6.10.1.3 温度センサの電気的データおよびタイミング
          1. 6.10.1.3.1 温度センサの電気的特性
      2. 6.10.2 コンパレータ・サブシステム (CMPSS)
        1. 6.10.2.1 CMPSS の電気的データおよびタイミング
          1. 6.10.2.1.1 コンパレータ電気的特性
          2. 6.10.2.1.2 CMPSS DAC の静的電気特性
      3. 6.10.3 バッファ付き D/A コンバータ (DAC)
        1. 6.10.3.1 バッファ付き DAC の電気的データおよびタイミング
          1. 6.10.3.1.1 バッファ付き DAC の電気的特性
        2. 6.10.3.2 CMPSS DAC の動的誤差
    11. 6.11 制御ペリフェラル
      1. 6.11.1 拡張キャプチャ (eCAP)
        1. 6.11.1.1 eCAP の電気的データおよびタイミング
          1. 6.11.1.1.1 eCAP のタイミング要件
          2. 6.11.1.1.2 eCAP のスイッチング特性
      2. 6.11.2 拡張パルス幅変調器 (ePWM)
        1. 6.11.2.1 制御ペリフェラルの同期
        2. 6.11.2.2 ePWM の電気的データおよびタイミング
          1. 6.11.2.2.1 ePWM のタイミング要件
          2. 6.11.2.2.2 ePWM のスイッチング特性
          3. 6.11.2.2.3 トリップ・ゾーン入力のタイミング
            1. 6.11.2.2.3.1 トリップ・ゾーン入力のタイミング要件
        3. 6.11.2.3 外部 ADC 変換開始の電気的データおよびタイミング
          1. 6.11.2.3.1 外部 ADC 変換開始のスイッチング特性
      3. 6.11.3 拡張直交エンコーダ・パルス (eQEP)
        1. 6.11.3.1 eQEP の電気的データおよびタイミング
          1. 6.11.3.1.1 eQEP のタイミング要件
          2. 6.11.3.1.2 eQEP のスイッチング特性
      4. 6.11.4 高分解能パルス幅変調器 (HRPWM)
        1. 6.11.4.1 GPIO の電気的データおよびタイミング
          1. 6.11.4.1.1 高分解能 PWM のタイミング要件
          2. 6.11.4.1.2 高分解能 PWM の特性
      5. 6.11.5 シグマ-デルタ・フィルタ・モジュール (SDFM)
        1. 6.11.5.1 SDFM の電気的データおよびタイミング (ASYNC を使用)
          1. 6.11.5.1.1 非同期 GPIO (ASYNC) オプション使用時の SDFM のタイミング要件
        2. 6.11.5.2 SDFM の電気的データおよびタイミング (3 サンプル GPIO 入力フィルタを使用)
          1. 6.11.5.2.1 GPIO 入力 フィルタ (3 サンプル ウィンドウ) オプションを使用した場合の SDFM タイミング要件
    12. 6.12 通信ペリフェラル
      1. 6.12.1 CAN (Controller Area Network)
      2. 6.12.2 I2C (Inter-Integrated Circuit)
        1. 6.12.2.1 I2C の電気的データおよびタイミング
          1. 6.12.2.1.1 I2C のタイミング要件
          2. 6.12.2.1.2 I2C のスイッチング特性
          3. 6.12.2.1.3 I2C タイミング図
      3. 6.12.3 マルチチャネル バッファ付きシリアル ポート (McBSP)
        1. 6.12.3.1 McBSP の電気的データおよびタイミング
          1. 6.12.3.1.1 McBSP の送信および受信タイミング
            1. 6.12.3.1.1.1 McBSP のタイミング要件
            2. 6.12.3.1.1.2 McBSP のスイッチング特性
          2. 6.12.3.1.2 SPI マスタまたはスレーブとしての McBSP タイミング
            1. 6.12.3.1.2.1 SPI マスタとしての McBSP タイミング要件
            2. 6.12.3.1.2.2 SPI マスタとしての McBSP スイッチング特性
            3. 6.12.3.1.2.3 SPI スレーブとしての McBSP タイミング要件
            4. 6.12.3.1.2.4 SPI スレーブとしての McBSP スイッチング特性
      4. 6.12.4 シリアル通信インターフェイス (SCI)
      5. 6.12.5 シリアル・ペリフェラル・インターフェイス (SPI)
        1. 6.12.5.1 SPI の電気的データおよびタイミング
          1. 6.12.5.1.1 SPI マスタ・モードのタイミング
            1. 6.12.5.1.1.1 SPI マスタ・モードのタイミング要件
            2. 6.12.5.1.1.2 SPI マスタ モードのスイッチング特性 (クロック位相=0)
            3. 6.12.5.1.1.3 SPI マスタ モードのスイッチング特性 (クロック位相=1)
          2. 6.12.5.1.2 SPI スレーブ・モードのタイミング
            1. 6.12.5.1.2.1 SPI スレーブ・モードのタイミング要件
            2. 6.12.5.1.2.2 SPI スレーブ・モードのスイッチング特性
      6. 6.12.6 ユニバーサル・シリアル・バス (USB) コントローラ
        1. 6.12.6.1 USB の電気的データおよびタイミング
          1. 6.12.6.1.1 USB入力ポート DP および DM のタイミング要件
          2. 6.12.6.1.2 USB出力ポート DP および DM スイッチング特性
      7. 6.12.7 ユニバーサル・パラレル・ポート (uPP) インターフェイス
        1. 6.12.7.1 uPP の電気的データおよびタイミング
          1. 6.12.7.1.1 uPP のタイミング要件
          2. 6.12.7.1.2 uPP のスイッチング特性
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1  概要
    2. 7.2  機能ブロック図
    3. 7.3  メモリ
      1. 7.3.1 C28x メモリ・マップ
      2. 7.3.2 フラッシュ メモリ マップ
      3. 7.3.3 EMIF チップ セレクト メモリ マップ
      4. 7.3.4 ペリフェラル・レジスタのメモリ・マップ
      5. 7.3.5 メモリ タイプ
        1. 7.3.5.1 専用RAM (Mx および Dx RAM)
        2. 7.3.5.2 ローカル共有 RAM (LSx RAM)
        3. 7.3.5.3 グローバル共有 RAM (GSx RAM)
        4. 7.3.5.4 CLA メッセージ RAM (CLA MSGRAM)
    4. 7.4  識別
    5. 7.5  バス アーキテクチャ – ペリフェラル コネクティビティ
    6. 7.6  C28x プロセッサ
      1. 7.6.1 浮動小数点ユニット
      2. 7.6.2 三角関数演算ユニット (TMU)
      3. 7.6.3 ビタビ、複素演算、CRC ユニット II
    7. 7.7  制御補償器アクセラレータ (CLA)
    8. 7.8  ダイレクト・メモリ・アクセス (DMA)
    9. 7.9  ブート ROM およびペリフェラル ブート
      1. 7.9.1 EMU ブートまたはエミュレーション・ブート
      2. 7.9.2 ウェイト・ブート・モード
      3. 7.9.3 ゲット モード
      4. 7.9.4 ブートローダが使用するペリフェラル・ピン
    10. 7.10 デュアル・コード・セキュリティ・モジュール
    11. 7.11 タイマ
    12. 7.12 ウォッチドッグ・タイマ付きノンマスカブル割り込み (NMIWD)
    13. 7.13 ウォッチドッグ
    14. 7.14 構成可能ロジック ブロック (CLB)
    15. 7.15 機能安全
  9. 8 アプリケーション、実装、およびレイアウト
    1. 8.1 アプリケーションと実装
    2. 8.2 デバイスの主な特長
    3. 8.3 アプリケーション情報
      1. 8.3.1 代表的なアプリケーション
        1. 8.3.1.1 サーボ・ドライブ制御モジュール
          1. 8.3.1.1.1 システム・ブロック図
          2. 8.3.1.1.2 サーボ ドライブ制御モジュールのリソース
        2. 8.3.1.2 ソーラー・マイクロ・インバータ
          1. 8.3.1.2.1 システム・ブロック図
          2. 8.3.1.2.2 ソーラー マイクロ インバータのリソース
        3. 8.3.1.3 オンボード充電器 (OBC)
          1. 8.3.1.3.1 システム・ブロック図
          2. 8.3.1.3.2 OBC の技術関連資料
        4. 8.3.1.4 EV 充電ステーション向けパワー・モジュール
          1. 8.3.1.4.1 システム ブロック図
          2. 8.3.1.4.2 EV 充電ステーション向けパワー モジュール資料
        5. 8.3.1.5 高電圧トラクション インバータ
          1. 8.3.1.5.1 システム ブロック図
          2. 8.3.1.5.2 高電圧トラクション インバータのリソース
        6. 8.3.1.6 単相オンライン UPS
          1. 8.3.1.6.1 システム・ブロック図
          2. 8.3.1.6.2 単相オンライン UPS のリソース
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 デバイスおよび開発ツールの命名規則
    2. 9.2 マーキング
    3. 9.3 ツールとソフトウェア
    4. 9.4 ドキュメントのサポート
    5. 9.5 サポート・リソース
    6. 9.6 商標
    7. 9.7 静電気放電に関する注意事項
    8. 9.8 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 11.1 パッケージ情報

7.15 機能安全

TMS320C2000™ MCU には、TI のリリース検証に基づく C28x および CLA コンパイラ認定キット (CQ-Kit) が用意されています。このキットは無償で入手でき、コンパイラ認定キット Web ページで請求できます。

さらに、C2000™ MCU は、MathWorks® の Embedded Coder による TI C2000 サポートのサポートがあり、Simulink® モデルから C2000 最適化コードを生成できます。Simulink® によりモデル・ベースの設計が可能 になります。また、Embedded Coder®、Simulink® モデル検証ツール、Polyspace® コード検証ツール、ISO 26262 および IEC 61508 に準拠した IEC 認証キットなどの認証ツールを使用して、体系的な準拠プロセスを容易に実現できます。詳細については、「ISO 26262 プロジェクトで Simulink を使用する方法」の記事を参照してください。

『SRAMでのエラー検出』アプリケーション・レポート には、SRAM ビット・セルおよびビット・アレイの性質、SRAM 障害の発生源に関する技術情報が記載されています。さらに、電子システムのメモリ障害を管理する方法を示しています。この説明は、組み込み SRAM の堅牢性の向上に関心をお持ちの電子システム開発者またはインテグレータを対象としたものです。

機能安全準拠製品は、ISO 26262 / IEC 61508 に準拠したハードウェア開発プロセスに基づいて開発されており、このプロセスは、ASIL D/SIL 3 の決定論的能力を満たすことが、独立した機関によって評価および認証されています (認証書 を参照)。TMS320F2837D、TMS320F2837xS、TMS320F2807x MCU は、ASIL B/SIL 2 のコンポーネント・レベルのランダム・ハードウェア能力を満たすことが認証されています(認証書を参照)。

機能安全準拠イネーブラには、以下のものが含まれます。

  • 機能安全マニュアル
  • 詳細かつ調節可能で定量的な、故障モード影響診断解析 (FMEDA)
  • ソフトウェアの各種安全メカニズムを実装する時間の短縮に役立つソフトウェア診断ライブラリ
  • 機能安全システムの開発に役立つ一連のアプリケーション・レポート。

すべてのハードウェアおよびソフトウェアの機能安全メカニズムについて説明した機能安全マニュアルを利用できます。 TMS320F2837xD、TMS320F2837xS、TMS320F2807x の安全マニュアル を参照してください。

ランダム・ハードウェア・メトリックスの計算を可能にする、故障注入による詳細かつ調整可能で定量的な FMEDA (国際標準化機構 ISO 26262 および国際電気標準会議 IEC 61508 で規定されている車載用および産業用アプリケーション向け) も利用できます。この調整可能な FMEDA は、請求する必要があります。『車載用および産業用 MCU 向け C2000™ パッケージ・ユーザー・ガイド』 を参照してください。

  • 調整可能な FMEDA の価値 (または利点) の概要を説明したホワイト・ペーパーをご用意しています。『機能安全：C2000™ MCU 向けの調整可能な FMEDA』 出版物を参照してください。
  • 5 部構成の FMEDA チューニング・トレーニングのうち、第 1 部および第 2 部が利用可能です。C2000™ 調整可能な FMEDA トレーニング ページを参照してください。
    第 3 部、第 4 部、第 5 部は、調整可能な FMEDA とパッケージされているため、請求する必要があります。

C2000 診断ソフトウェア・ライブラリ は、障害を検出するために設計された各種安全メカニズムを集めたものです。これらの安全メカニズムは、C28x コア、制御補償器アクセラレータ (CLA)、システム制御、静的ランダム・アクセス・メモリ (SRAM)、フラッシュ、通信および制御ペリフェラルなど、さまざまなデバイス・コンポーネントを対象としています。このソフトウェア安全メカニズムは、C28x ハードウェア組み込みセルフ・テスト(HWBIST)、メモリのエラー検出および訂正機能、並列シグネチャ分析回路、クロック消失検出ロジック、ウォッチドッグ・カウンタ、ハードウェア冗長性など、利用可能なハードウェア安全機能を活用しています。

また、ソフトウェア機能安全マニュアル、ユーザー・ガイド、サンプル・プロジェクト、ソース・コードも含まれており、システムの統合時間を短縮できます。このライブラリ・パッケージには、コンプライアンス・サポート・パッケージ (CSP) が含まれています。これは、TI が診断ソフトウェア・ライブラリの開発とテストに使用した一連のドキュメントです。CSP は、機能安全規格への準拠を支援するために必要な資料とレポートを提供します。その内容としては、ソフトウェア安全要求事項仕様、ソフトウェア・アーキテクチャ資料、ソフトウェア・モジュール設計資料、ソフトウェア・モジュール・ユニット・テスト計画、ソフトウェア・モジュール・ユニット・テスト資料、静的分析レポート、ユニット・テスト・レポート、動的分析レポート、 機能テスト・レポート、トレーサビリティ資料があります。ユーザーは、これらのドキュメントを使用すれば、ルート 1S (IEC 61508-3 セクション 7.4.2.12 で規定) に従って、既存のソフトウェア要素を再利用して、安全機能のすべてまたは一部を実装できます。また、CSP の内容は、システム全体の安全準拠を達成するために、ユーザーが重要な決定を下すのにも役立ちます。

2 つのアプリケーション・レポートには、C2000 リアルタイム制御デバイスを使用して機能安全システムを開発する方法の詳細が記載されています。

  • C2000™ ハードウェア内蔵セルフ・テスト では、F2807x/F2837xS/F2837xD シリーズの C2000 デバイスに搭載されている HWBIST の安全メカニズムとその機能について説明します。また、このレポートでは、HWBIST 機能を使用するときのシステム・レベルの検討事項について記載し、お客様のシステムで診断ライブラリを使用する方法についても説明します。
  • C2000™ CPU メモリの内蔵セルフ・テスト では、アクティブ制御ループでの C28x 中央処理装置 (CPU) を使った組み込みメモリの検証について説明します。メモリ検証に関するシステムの課題と、C2000 デバイスおよびソフトウェアが提供するさまざまなソリューションについて説明します。最後に、メモリ・テスト用の診断ライブラリの実装について説明します。