JAJSGX9B August   2018  – January 2020 TLV1805-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      N チャネル MOSFET による逆電流保護
      2.      P チャネル MOSFET による逆電流および過電圧保護
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Rail to Rail Inputs
      2. 7.3.2 Power On Reset
      3. 7.3.3 High Power Push-Pull Output
      4. 7.3.4 Shutdown Function
      5. 7.3.5 Internal Hysteresis
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 External Hysteresis
        1. 7.4.1.1 Inverting Comparator With Hysteresis
        2. 7.4.1.2 Noninverting Comparator With Hysteresis
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 Application Curve
      4. 8.2.4 Reverse Current Protection Using MOSFET and TLV1805-Q1
        1. 8.2.4.1 Minimum Reverse Current
        2. 8.2.4.2 N-Channel Reverse Current Protection Circuit
          1. 8.2.4.2.1 N-Channel Oscillator Circuit
      5. 8.2.5 P-Channel Reverse Current Protection Circuit
      6. 8.2.6 P-Channel Reverse Current Protection With Overvotlage Protection
      7. 8.2.7 ORing MOSFET Controller
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 ドキュメントのサポート
      1. 11.1.1 関連資料
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 商標
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

11.5 静電気放電に関する注意事項

esds-image

すべての集積回路は、適切なESD保護方法を用いて、取扱いと保存を行うようにして下さい。

静電気放電はわずかな性能の低下から完全なデバイスの故障に至るまで、様々な損傷を与えます。高精度の集積回路は、損傷に対して敏感であり、極めてわずかなパラメータの変化により、デバイスに規定された仕様に適合しなくなる場合があります。