JAJSKV0 December   2020 LM74500-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Pin Configuration and Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
  7. 7 Typical Characteristics
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Input Voltage
      2. 8.3.2 Charge Pump
      3. 8.3.3 Gate Driver
      4. 8.3.4 Enable
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Shutdown Mode
      2. 8.4.2 Conduction Mode
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Reverse Battery Protection for Automotive Body Control Module Applications
    2. 9.2 Reverse Polarity Protection
    3. 9.3 Application Information
      1. 9.3.1 Typical Application
        1. 9.3.1.1 Design Requirements
        2. 9.3.1.2 Detailed Design Procedure
          1. 9.3.1.2.1 Design Considerations
          2. 9.3.1.2.2 MOSFET Selection
          3. 9.3.1.2.3 Charge Pump VCAP, Input and Output Capacitance
        3. 9.3.1.3 Selection of TVS Diodes for 12-V Battery Protection Applications
        4. 9.3.1.4 Selection of TVS Diodes and MOSFET for 24-V Battery Protection Applications
        5. 9.3.1.5 Application Curves
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 12.2 サポート・リソース
    3. 12.3 Trademarks
    4. 12.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 12.5 用語集
  13. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

12.4 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。