JAJSNB8F August   1999  – July 2024 THS4021 , THS4022

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information - THS4021
    5. 5.5 Thermal Information - THS4022
    6. 5.6 Electrical Characteristics - THS4021D and THS4022DGN
    7. 5.7 Electrical Characteristics - THS4021DGN
    8. 5.8 Typical Characteristics: THS4021D and THS4022DGN
    9. 5.9 Typical Characteristics: THS4021DGN
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Offset Nulling
    4. 6.4 Device Functional Modes
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
      1. 7.1.1 Driving a Capacitive Load
      2. 7.1.2 General Configuration
    2. 7.2 Power Supply Recommendations
    3. 7.3 Layout
      1. 7.3.1 Layout Guidelines
        1. 7.3.1.1 General PowerPAD™ Integrated Circuit Package Design Considerations
      2. 7.3.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support
      1. 8.1.1 Related Documentation
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.5 静電気放電に関する注意事項

THS4021 THS4022 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。