JAJSP27A September   2022  – September 2023 TMAG5173-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Pin Configuration and Functions
  7. 6 Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Thermal Information
    5. 6.5  Electrical Characteristics
    6. 6.6  Temperature Sensor
    7. 6.7  Magnetic Characteristics For A1, B1, C1, D1
    8. 6.8  Magnetic Characteristics For A2, B2, C2, D2
    9. 6.9  Magnetic Temp Compensation Characteristics
    10. 6.10 I2C Interface Timing
    11. 6.11 Power up Timing
    12. 6.12 Timing Diagram
    13. 6.13 Typical Characteristics
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Magnetic Flux Direction
      2. 7.3.2 Sensor Location
      3. 7.3.3 Interrupt Function
      4. 7.3.4 Device I2C Address
      5. 7.3.5 Magnetic Range Selection
      6. 7.3.6 Update Rate Settings
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Standby (Trigger) Mode
      2. 7.4.2 Sleep Mode
      3. 7.4.3 Continuous Measure Mode
    5. 7.5 Programming
      1. 7.5.1 I2C Interface
        1. 7.5.1.1 SCL
        2. 7.5.1.2 SDA
        3. 7.5.1.3 I2C Read/Write
          1. 7.5.1.3.1 Standard I2C Write
          2. 7.5.1.3.2 General Call Write
          3. 7.5.1.3.3 Standard 3-Byte I2C Read
          4. 7.5.1.3.4 1-Byte I2C Read Command for 16-Bit Data
          5. 7.5.1.3.5 1-Byte I2C Read Command for 8-Bit Data
          6. 7.5.1.3.6 I2C Read CRC
      2. 7.5.2 Data Definition
        1. 7.5.2.1 Magnetic Sensor Data
        2. 7.5.2.2 Temperature Sensor Data
        3. 7.5.2.3 Angle and Magnitude Data Definition
        4. 7.5.2.4 Magnetic Sensor Offset Correction
    6. 7.6 TMAG5173-Q1 Registers
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
      1. 8.1.1 Select the Sensitivity Option
      2. 8.1.2 Temperature Compensation for Magnets
      3. 8.1.3 Sensor Conversion
        1. 8.1.3.1 Continuous Conversion
        2. 8.1.3.2 Trigger Conversion
        3. 8.1.3.3 Pseudo-Simultaneous Sampling
      4. 8.1.4 Magnetic Limit Check
      5. 8.1.5 Magnetic Threshold Band Cross Detection
      6. 8.1.6 Error Calculation During Linear Measurement
      7. 8.1.7 Error Calculation During Angular Measurement
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 Angle Measurement
        1. 8.2.1.1 Design Requirements
        2. 8.2.1.2 Detailed Design Procedure
          1. 8.2.1.2.1 Gain Adjustment for Angle Measurement
        3. 8.2.1.3 Application Curves
      2. 8.2.2 I2C Address Expansion
        1. 8.2.2.1 Design Requirements
        2. 8.2.2.2 Detailed Design Procedure
    3. 8.3 Best Design Practices
    4. 8.4 Power Supply Recommendations
    5. 8.5 Layout
      1. 8.5.1 Layout Guidelines
      2. 8.5.2 Layout Example
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1. 9.1.1 Related Documentation
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

9.5 静電気放電に関する注意事項

TMAG5173-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。