JAJSP63A November   2023  – June 2024 TPS6522005-EP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2  ESD Ratings
    3. 5.3  Recommended Operating Conditions
    4. 5.4  Thermal Information
    5. 5.5  System Control Thresholds
    6. 5.6  BUCK1 Converter
    7. 5.7  BUCK2, BUCK3 Converter
    8. 5.8  General Purpose LDOs (LDO1, LDO2)
    9. 5.9  General Purpose LDOs (LDO3, LDO4)
    10. 5.10 GPIOs and multi-function pins (EN/PB/VSENSE, nRSTOUT, nINT, GPO1, GPO2, GPIO, MODE/RESET, MODE/STBY, VSEL_SD/VSEL_DDR)
    11. 5.11 Voltage and Temperature Monitors
    12. 5.12 I2C Interface
    13. 5.13 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1  Power-Up Sequencing
      2. 6.3.2  Power-Down Sequencing
      3. 6.3.3  Push Button and Enable Input (EN/PB/VSENSE)
      4. 6.3.4  Reset to SoC (nRSTOUT)
      5. 6.3.5  Buck Converters (Buck1, Buck2, and Buck3)
        1. 6.3.5.1 Dual Random Spread Spectrum (DRSS)
      6. 6.3.6  Linear Regulators (LDO1 through LDO4)
      7. 6.3.7  Interrupt Pin (nINT)
      8. 6.3.8  PWM/PFM and Low Power Modes (MODE/STBY)
      9. 6.3.9  PWM/PFM and Reset (MODE/RESET)
      10. 6.3.10 Voltage Select pin (VSEL_SD/VSEL_DDR)
      11. 6.3.11 General Purpose Inputs or Outputs (GPO1, GPO2, and GPIO)
      12. 6.3.12 I2C-Compatible Interface
        1. 6.3.12.1 Data Validity
        2. 6.3.12.2 Start and Stop Conditions
        3. 6.3.12.3 Transferring Data
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Modes of Operation
        1. 6.4.1.1 OFF State
        2. 6.4.1.2 INITIALIZE State
        3. 6.4.1.3 ACTIVE State
        4. 6.4.1.4 STBY State
        5. 6.4.1.5 Fault Handling
    5. 6.5 Multi-PMIC Operation
    6. 6.6 NVM Programming
      1. 6.6.1 TPS6522005-EP default NVM settings
      2. 6.6.2 NVM programming in Initialize State
      3. 6.6.3 NVM Programming in Active State
    7. 6.7 User Registers
    8. 6.8 Device Registers
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Typical Application Example
      2. 7.2.2 Design Requirements
      3. 7.2.3 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.3.1 Buck1, Buck2, Buck3 Design Procedure
        2. 7.2.3.2 LDO1, LDO2 Design Procedure
        3. 7.2.3.3 LDO3, LDO4 Design Procedure
        4. 7.2.3.4 VSYS, VDD1P8
        5. 7.2.3.5 Digital Signals Design Procedure
      4. 7.2.4 Application Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 8.2 サポート・リソース
    3. 8.3 Trademarks
    4. 8.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 8.5 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.4 静電気放電に関する注意事項

TPS6522005-EP この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。