JAJSPO4 October   2024 AMC0311D-Q1

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Device Comparison Table
  6. 5 Pin Configuration and Functions
  7. 6 Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Thermal Information (D Package)
    5. 6.5  Thermal Information (DWV Package)
    6. 6.6  Power Ratings
    7. 6.7  Insulation Specifications (Basic Isolation)
    8. 6.8  Insulation Specifications (Reinforced Isolation)
    9. 6.9  Safety-Related Certifications (Basic Isolation)
    10. 6.10 Safety-Related Certifications (Reinforced Isolation)
    11. 6.11 Safety Limiting Values (D Package)
    12. 6.12 Safety Limiting Values (DWV Package)
    13. 6.13 Electrical Characteristics
    14. 6.14 Switching Characteristics
    15. 6.15 Timing Diagram
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Analog Input
      2. 7.3.2 Isolation Channel Signal Transmission
      3. 7.3.3 Analog Output
    4. 7.4 Device Functional Modes
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Best Design Practices
  10. 9 Power Supply Recommendations
  11. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  12. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Documentation Support
      1. 11.1.1 Related Documentation
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 Trademarks
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 用語集
  13. 12Revision History
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 13.1 Mechanical Data

11.5 静電気放電に関する注意事項

AMC0311D-Q1 AMC0211D-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。