JAJSPU3 May   2024 INA791B

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Integrated Shunt Resistor
      2. 6.3.2 Safe Operating Area
      3. 6.3.3 Short-Circuit Duration
      4. 6.3.4 Temperature Stability
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Adjusting the Output With the Reference Pin
        1. 6.4.1.1 Reference Pin Connections for Unidirectional Current Measurements
        2. 6.4.1.2 Ground Referenced Output
        3. 6.4.1.3 Reference Pin Connections for Bidirectional Current Measurements
        4. 6.4.1.4 Output Set to Mid-Supply Voltage
      2. 6.4.2 Adjustable Gain Set Using External Resistors
        1. 6.4.2.1 Adjustable Unity Gain
      3. 6.4.3 Thermal Alert Function
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
      1. 7.1.1 Calculating Total Error
        1. 7.1.1.1 Error Sources
        2. 7.1.1.2 Reference Voltage Rejection Ratio Error
        3. 7.1.1.3 External Adjustable Gain Error
        4. 7.1.1.4 Total Error Example 1
        5. 7.1.1.5 Total Error Example 2
        6. 7.1.1.6 Total Error Example 3
    2. 7.2 Typical Applications
      1. 7.2.1 High-Side, High-Drive, Solenoid Current-Sense Application
        1. 7.2.1.1 Design Requirements
  9. 8 Power Supply Recommendations
  10. 9 Layout Example
  11. 10Layout Guidelines
  12. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Documentation Support
      1. 11.1.1 Related Documentation
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 Trademarks
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 用語集
  13. 12Revision History
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

11.5 静電気放電に関する注意事項

INA791B この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。