JAJSRI2B October   2023  – May 2024 SN74LVC3G97-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Switching Characteristics
    7. 5.7 Noise Characteristics
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. 6 Parameter Measurement Information
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 CMOS Schmitt-Trigger Inputs
      2. 7.3.2 Balanced CMOS Push-Pull Outputs
      3. 7.3.3 Clamp Diode Structure
      4. 7.3.4 Wettable Flanks
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Logic Configurations
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
        1. 8.2.1.1 Power Considerations
        2. 8.2.1.2 Input Considerations
        3. 8.2.1.3 Output Considerations
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 Application Curves
    3. 8.3 Power Supply Recommendations
    4. 8.4 Layout
      1. 8.4.1 Layout Guidelines
      2. 8.4.2 Layout Example
  10. 9 Device and Documentation Support
    1. 9.1 Documentation Support
      1. 9.1.1 Related Documentation
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 Trademarks
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10Revision History
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

1 特長

  • 車載アプリケーション用に AEC-Q100 認定済み：

    • デバイス温度グレード 1：-40℃～+125℃

    • デバイス HBM ESD 分類レベル 2

    • デバイス CDM ESD 分類レベル C4B

  • ウェッタブル フランク QFN (WBQA) パッケージで供給されます

  • 1.1V～3.6V の動作範囲
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • JESD 17 準拠で
    250mA 超のラッチアップ性能
  • JESD 22 を上回る ESD 保護
    • 2000V、人体モデル (A114-A)
    • 1000V、デバイス帯電モデル (C101)