JAJSRL8I June   2007  – August 2024 CDCE913 , CDCEL913

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 EEPROM Specification
    7. 5.7 Timing Requirements: CLK_IN
    8. 5.8 Timing Requirements: SDA/SCL #GUID-DE171716-D3A0-4375-A25C-58C636304087/SCAS849414
    9. 5.9 Typical Characteristics
  7. 6 Parameter Measurement Information
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Control Terminal Configuration
      2. 7.3.2 Default Device Configuration
      3. 7.3.3 SDA/SCL Serial Interface
      4. 7.3.4 Data Protocol
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 SDA/SCL Hardware Interface
    5. 7.5 Programming
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Spread-Spectrum Clock (SSC)
        2. 8.2.2.2 PLL Frequency Planning
        3. 8.2.2.3 Crystal Oscillator Start-up
        4. 8.2.2.4 Frequency Adjustment with Crystal Oscillator Pulling
        5. 8.2.2.5 Unused Inputs/Outputs
        6. 8.2.2.6 Switching Between XO and VCXO Mode
      3. 8.2.3 Application Curves
    3. 8.3 Power Supply Recommendations
    4. 8.4 Layout
      1. 8.4.1 Layout Guidelines
      2. 8.4.2 Layout Example
  10. 9 Register Maps
    1. 9.1 SDA/SCL Configuration Registers
  11. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Documentation Support
      1. 10.1.1 Related Documentation
    2. 10.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 10.3 サポート・リソース
    4. 10.4 Trademarks
    5. 10.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 10.6 用語集
  12. 11Revision History
  13. 12Mechanical, Packaging, and Orderable Information

10.5 静電気放電に関する注意事項

CDCE913 CDCEL913 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。