JAJSUK8R January   1993  – May 2024 SN54LVC157A , SN74LVC157A

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 概要
  4. 3 Pin Configuration and Functions
  5. 4 Specifications
    1. 4.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 4.2  ESD Ratings
    3. 4.3  Recommended Operating Conditions, SN54LVC157A
    4. 4.4  Recommended Operating Conditions, SN74LVC157A
    5. 4.5  Thermal Information
    6. 4.6  Electrical Characteristics, SN54LVC157A
    7. 4.7  Electrical Characteristics, SN74LVC157A
    8. 4.8  Switching Characteristics, SN54LVC157A
    9. 4.9  Switching Characteristics, SN74LVC157A
    10. 4.10 Operating Characteristics
  6. 5 Parameter Measurement Information
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Device Functional Modes
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Power Supply Recommendations
    2. 7.2 Layout
      1. 7.2.1 Layout Guidelines
      2. 7.2.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support (Analog)
      1. 8.1.1 Related Links
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.5 静電気放電に関する注意事項

SN54LVC157A SN74LVC157A この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。