JAJSUR0F August   2003  – October 2024 SN74LV4053A-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Thermal Information: SN74LV4053A-Q1
    4. 5.4 Recommended Operating Conditions
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Timing Characteristics VCC = 2.5 V ± 0.2 V
    7. 5.7 Timing Characteristics VCC = 3.3 V ± 0.3 V
    8. 5.8 Timing Characteristics VCC = 5 V ± 0.5 V
    9. 5.9 AC Characteristics
  7. 6 Parameter Measurement Information
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Functional Block Diagram
    2. 7.2 Device Functional Modes
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
    3. 8.3 Design Requirements
    4. 8.4 Detailed Design Procedure
    5. 8.5 Power Supply Recommendations
    6. 8.6 Layout
      1. 8.6.1 Layout Guidelines
      2. 8.6.2 Layout Example
  10. 9 Device and Documentation Support
    1. 9.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 9.2 サポート・リソース
    3. 9.3 Trademarks
    4. 9.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 9.5 用語集
  11. 10Revision History
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

9.4 静電気放電に関する注意事項

SN74LV4053A-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。