JAJU877C December   2013  – November 2022 BQ40Z50 , BQ40Z50-R2

 

  1.   概要
  2.   商標
  3. 1特長
    1. 1.1 キットの内容
    2. 1.2 注文情報
    3. 1.3 資料
    4. 1.4 bq40z50 および bq296000 回路モジュールの性能仕様の概要
  4. 2bp40z50EVM クイック・スタート・ガイド
    1. 2.1 EVM のセットアップと評価に必要な項目
    2. 2.2 ソフトウェアのインストール
    3. 2.3 EVM の接続
    4. 2.4 ファームウェアの更新
  5. 3バッテリ管理スタジオ
    1. 3.1 Registers ウィンドウ
    2. 3.2 プログラム可能な bq40z50 オプションの設定
    3. 3.3 Calibration ウィンドウ
      1. 3.3.1 電圧キャリブレーション
      2. 3.3.2 温度キャリブレーション
      3. 3.3.3 電流キャリブレーション
    4. 3.4 Chemistry ウィンドウ
    5. 3.5 Firmware ウィンドウ
      1. 3.5.1 フラッシュ・メモリのプログラミング
      2. 3.5.2 フラッシュ・メモリのエクスポート
    6. 3.6 Advanced Comm SMB ウィンドウ
  6. 4bq40z50EVM 回路モジュールの回路図
    1. 4.1 プリチャージ
    2. 4.2 LED 制御
    3. 4.3 緊急シャットダウン
    4. 4.4 ヒューズ・ブロー回路のテスト
    5. 4.5 PTC サーミスタ
  7. 5回路モジュールの物理レイアウト
    1. 5.1 基板レイアウト
    2. 5.2 回路図
  8. 6部品表 (BOM)
  9. 7テキサス・インスツルメンツの関連資料
  10. 8改訂履歴

4.4 ヒューズ・ブロー回路のテスト

ヒューズ・ブローのテスト中に基板の機能が失われることを防止するため、実際の化学ヒューズは EVM に付属していません。FET Q5 は、ヒューズ・ブロー状態が発生した場合、FUSE のテスト・ポイントを LOW に駆動します。FUSE はオープン・ドレイン FET に接続されているため、FUSE が LOW にされるかどうかを確認するにはプルアップ抵抗が必要です。FUSEPIN テスト・ポイントが Q5 のゲートに接続されているため、FUSEPIN の監視を使用して、プルアップ抵抗を追加せずにこの状態をテストできます。アプリケーション・ボード上 のヒューズの配置を bq40z50 データシートに示します。化学ヒューズを EVM に半田付けして、インシステム・テストを行うこともできます。PCB には、化学ヒューズをバイパスするための銅製ブリッジが内蔵されているため、ヒューズを切断して電力パスをオープンにする必要があります。この切れ目は 図 4-1 に黄色で示されており、矢印は位置を指しています。

GUID-2AB19CBC-68DE-4CBB-9748-3C7FF4C587B2-low.gif図 4-1 ヒューズ・トレースの変更